电磁屏蔽结构
    1.
    发明公开
    电磁屏蔽结构 审中-公开

    公开(公告)号:CN118231385A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202311730745.9

    申请日:2023-12-15

    IPC分类号: H01L23/552

    摘要: 一种用于半导体封装的电磁EM屏蔽结构嵌入在所述半导体封装的核心层的通孔中。所述EM屏蔽结构可包含通过铜电镀操作形成的多个通路。另外,金属路径环绕所述EM屏蔽结构且与介电材料一起防止不想要的EM辐射(通过了所述通路)从整个所述半导体封装中发出。所述EM屏蔽结构也可采用在所述核心层的通孔处粘合到所述核心层的插入件的形式。