公开(公告)号：CN119619194A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411811524.9

申请日：2024-12-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 卢秋虹 ,  马永会 ,  田敏 ,  熊婷 ,  张敏锐 ,  谭军

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/2055

Abstract: 本申请公开了一种位错分类方法、位错分类装置、位错分类设备、存储介质和计算机程序产品，涉及材料微结构检测分析的技术领域，在本申请中，提出一种通过透射电镜，对面心立方金属孪晶结构中的位错类别进行分析表征的方法。针对位错的伯氏矢量与孪晶面间的几何关系，为区分位错的类别，常规操作至少需要标定出全部位错的伯氏矢量再对比定义位错种类才能做出位错区分。而在本申请中，基于在1个晶带轴附近的衍射矢量的双束成像，简单快捷的区分孪晶结构中三类位错。以此，跳过伯氏矢量的计算和位错分类标定，而直接基于双数成像进行位错的分类判别，实现高效、直接的位错分类。

公开(公告)号：CN114460114A

公开(公告)日：2022-05-10

申请号：CN202210381689.1

申请日：2022-04-13

Applicant: 季华实验室

Inventor： 范燕 ,  谭军 ,  姜传斌 ,  罗明生 ,  马永会 ,  刘海全 ,  冯松浩 ,  黄玲 ,  李穗敏

IPC: G01N23/2206 ,  G01N23/20 ,  G01N23/2273

Abstract: 本发明属于物质检测技术领域，公开了一种样品分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：根据获取到的X射线光电子能谱图确定目标元素对应的相对原子百分含量；根据相对原子百分含量确定目标元素对应的综合灵敏度因子；根据获取到的反射电子能量损失谱图确定目标元素的非弹性损失峰总面积和氢元素的弹性损失峰面积；基于目标元素的综合灵敏度因子、该非弹性损失峰总面积、氢元素的灵敏度因子以及该弹性损失峰面积确定待测试样品对应的氢元素含量；根据氢元素含量对待测试样品进行样品分析。通过上述方式，利用XPS谱图和REELS谱图结合分析，准确测定待测试样品中的氢元素含量，进一步提升了聚合物薄膜材料的性能分析结果的准确性。

公开(公告)号：CN114460114B

公开(公告)日：2022-06-21

申请号：CN202210381689.1

申请日：2022-04-13

Applicant: 季华实验室

Inventor： 范燕 ,  谭军 ,  姜传斌 ,  罗明生 ,  马永会 ,  刘海全 ,  冯松浩 ,  黄玲 ,  李穗敏

IPC: G01N23/2206 ,  G01N23/20 ,  G01N23/2273

Abstract: 本发明属于物质检测技术领域，公开了一种样品分析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：根据获取到的X射线光电子能谱图确定目标元素对应的相对原子百分含量；根据相对原子百分含量确定目标元素对应的综合灵敏度因子；根据获取到的反射电子能量损失谱图确定目标元素的非弹性损失峰总面积和氢元素的弹性损失峰面积；基于目标元素的综合灵敏度因子、该非弹性损失峰总面积、氢元素的灵敏度因子以及该弹性损失峰面积确定待测试样品对应的氢元素含量；根据氢元素含量对待测试样品进行样品分析。通过上述方式，利用XPS谱图和REELS谱图结合分析，准确测定待测试样品中的氢元素含量，进一步提升了聚合物薄膜材料的性能分析结果的准确性。