公开(公告)号：CN118781113B

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411261497.2

申请日：2024-09-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 许高 ,  章锐 ,  毕海 ,  刘祥 ,  闫晓庆

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06T7/73 ,  G06V10/58 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V20/10

Abstract: 本申请公开了一种表面缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：获取待检测的高光谱图像，对高光谱图像进行子图划分，得到多个初始子图；确定各初始子图的平均光谱，将初始子图的平均光谱输入目标子图分类器中，判断初始子图是否存在缺陷；在初始子图存在缺陷的情况下，确定初始子图的最优特征波段，得到目标子图；将目标子图输入目标缺陷检测器中，得到高光谱图像的缺陷检测结果。本申请实现了提高工业产品表面缺陷检测效率的技术效果。

公开(公告)号：CN118446121B

公开(公告)日：2024-10-22

申请号：CN202410889227.X

申请日：2024-07-04

Applicant: 季华实验室 ,  佛山众陶联供应链服务有限公司

Inventor： 许高 ,  毕海 ,  闫晓庆 ,  白梅

IPC: G06F30/27 ,  G01B21/32 ,  G01K13/00

Abstract: 本发明公开了一种陶瓷窑炉温度拟合方法、装置、电子设备及存储介质，属于数据处理技术领域，该方法包括：获取陶瓷制品的烧结变形数据；将所述烧结变形数据输入第一阶段拟合模型中，得到初始温度拟合数据，所述第一阶段拟合模型为第一集成学习模型；将所述烧结变形数据和所述初始温度拟合数据输入第二阶段拟合模型中，得到目标温度拟合数据，所述第二阶段拟合模型为第二集成学习模型。本发明通过两个阶段的温度拟合，实现了提升陶瓷制品的烧结质量，提升产量的技术效果。

公开(公告)号：CN118446121A

公开(公告)日：2024-08-06

申请号：CN202410889227.X

申请日：2024-07-04

Applicant: 季华实验室 ,  佛山众陶联供应链服务有限公司

Inventor： 许高 ,  毕海 ,  闫晓庆 ,  白梅

IPC: G06F30/27 ,  G01B21/32 ,  G01K13/00

Abstract: 本发明公开了一种陶瓷窑炉温度拟合方法、装置、电子设备及存储介质，属于数据处理技术领域，该方法包括：获取陶瓷制品的烧结变形数据；将所述烧结变形数据输入第一阶段拟合模型中，得到初始温度拟合数据，所述第一阶段拟合模型为第一集成学习模型；将所述烧结变形数据和所述初始温度拟合数据输入第二阶段拟合模型中，得到目标温度拟合数据，所述第二阶段拟合模型为第二集成学习模型。本发明通过两个阶段的温度拟合，实现了提升陶瓷制品的烧结质量，提升产量的技术效果。

公开(公告)号：CN118781113A

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202411261497.2

申请日：2024-09-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 许高 ,  章锐 ,  毕海 ,  刘祥 ,  闫晓庆

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06T7/73 ,  G06V10/58 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V20/10

Abstract: 本申请公开了一种表面缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：获取待检测的高光谱图像，对高光谱图像进行子图划分，得到多个初始子图；确定各初始子图的平均光谱，将初始子图的平均光谱输入目标子图分类器中，判断初始子图是否存在缺陷；在初始子图存在缺陷的情况下，确定初始子图的最优特征波段，得到目标子图；将目标子图输入目标缺陷检测器中，得到高光谱图像的缺陷检测结果。本申请实现了提高工业产品表面缺陷检测效率的技术效果。