公开(公告)号：CN119415639A

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202411575632.0

申请日：2024-11-06

Applicant: 季华实验室 ,  佛山众陶联供应链服务有限公司

Inventor： 何兆铭 ,  毕海 ,  刘祥 ,  白梅

IPC: G06F16/332 ,  G06F16/33 ,  G06F16/335 ,  G06N3/0464

Abstract: 本申请公开了一种问答方法、问答系统及存储介质，涉及智能问答技术领域，公开了问答方法，包括：在预设向量数据库中检索得到待回答问句的目标文段数据；调用与待回答问句和/或目标文段数据相对应的进程规划命令，从预设工具模块中选取用于执行进程规划命令的执行子模块，其中，预设工具模块包括多个执行子模块，一个执行子模块对应一条进程规划命令；将待回答问句和/或各目标文段数据输入到对应的执行子模块，输出目标答案，解决了常规问答系统难以实现问答处理流程的透明可追溯和难以输出与待回答问句具有强关联性的回答的技术问题，提高了回答系统的回答能力。

公开(公告)号：CN118781113B

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411261497.2

申请日：2024-09-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 许高 ,  章锐 ,  毕海 ,  刘祥 ,  闫晓庆

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06T7/73 ,  G06V10/58 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V20/10

Abstract: 本申请公开了一种表面缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：获取待检测的高光谱图像，对高光谱图像进行子图划分，得到多个初始子图；确定各初始子图的平均光谱，将初始子图的平均光谱输入目标子图分类器中，判断初始子图是否存在缺陷；在初始子图存在缺陷的情况下，确定初始子图的最优特征波段，得到目标子图；将目标子图输入目标缺陷检测器中，得到高光谱图像的缺陷检测结果。本申请实现了提高工业产品表面缺陷检测效率的技术效果。

公开(公告)号：CN118781113A

公开(公告)日：2024-10-15

申请号：CN202411261497.2

申请日：2024-09-10

Applicant: 季华实验室

Inventor： 许高 ,  章锐 ,  毕海 ,  刘祥 ,  闫晓庆

IPC: G06T7/00 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/08 ,  G06T7/73 ,  G06V10/58 ,  G06V10/764 ,  G06V10/80 ,  G06V10/82 ,  G06V20/10

Abstract: 本申请公开了一种表面缺陷检测方法、设备及存储介质，涉及图像处理技术领域，包括：获取待检测的高光谱图像，对高光谱图像进行子图划分，得到多个初始子图；确定各初始子图的平均光谱，将初始子图的平均光谱输入目标子图分类器中，判断初始子图是否存在缺陷；在初始子图存在缺陷的情况下，确定初始子图的最优特征波段，得到目标子图；将目标子图输入目标缺陷检测器中，得到高光谱图像的缺陷检测结果。本申请实现了提高工业产品表面缺陷检测效率的技术效果。