X射线探测器、在线矿石成分分析设备及方法

    公开(公告)号:CN115763616B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310016433.5

    申请日:2023-01-06

    Inventor: 刘晨 李咏谙

    Abstract: 本发明属于半导体技术领域,涉及一种X射线探测器、在线矿石成分分析设备及方法,X射线探测器包括PIN结构、封装在PIN结构外侧的真空保护窗和输出模块,在PIN结构与真空保护窗之间设有真空层;所述PIN结构包括P层、本征半导体层和N层,本征半导体层位于P层和N层之间,真空层位于P层和真空保护窗之间;真空保护窗为由轻元素材料制作而成、厚度≤100um的薄层;输出模块与PIN结构的P层连接,用于输出PIN结构经X射线照射产生的光电信号。本发明X射线探测器能够快速准确地探测X射线,将其应用于矿石成分分析中,能够快速准确探测X射线激发矿石产生的次级X射线,缩短探测时间,进而提高矿石成分分析的效率及准确性。

    X射线探测器、在线矿石成分分析设备及方法

    公开(公告)号:CN115763616A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202310016433.5

    申请日:2023-01-06

    Inventor: 刘晨 李咏谙

    Abstract: 本发明属于半导体技术领域,涉及一种X射线探测器、在线矿石成分分析设备及方法,X射线探测器包括PIN结构、封装在PIN结构外侧的真空保护窗和输出模块,在PIN结构与真空保护窗之间设有真空层;所述PIN结构包括P层、本征半导体层和N层,本征半导体层位于P层和N层之间,真空层位于P层和真空保护窗之间;真空保护窗为由轻元素材料制作而成、厚度≤100um的薄层;输出模块与PIN结构的P层连接,用于输出PIN结构经X射线照射产生的光电信号。本发明X射线探测器能够快速准确地探测X射线,将其应用于矿石成分分析中,能够快速准确探测X射线激发矿石产生的次级X射线,缩短探测时间,进而提高矿石成分分析的效率及准确性。

    X射线荧光分析修正方法及在线矿石成分分析方法

    公开(公告)号:CN116297602A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310017655.9

    申请日:2023-01-06

    Inventor: 刘晨 李咏谙

    Abstract: 本发明属于成分分析技术领域,涉及一种X射线荧光分析修正方法及在线矿石成分分析方法,所述修正方法采用蒙特卡罗法对X射线在空气中的衰减程度进行模拟,得到X射线在空气中的反应情况;以X射线的能量为横坐标,以穿过距离d空气后的剩余X射线数目为纵坐标,拟合曲线得到X射线在空气中的衰减曲线,采用TGraph类中的Eval()函数差值得到不同入射能量的透过率;利用得到的透过率对测量样品中各元素的真实产额进行修正。本发明修正方法及在线矿石成分分析方法应用到矿石成分分析过程中,能够使成分分析设备脱离真空泵,在空气中直接使用。

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