位置检测系统和位置检测方法

    公开(公告)号:CN107529949A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680023163.9

    申请日:2016-10-26

    Abstract: 位置检测系统具备:探测体,其设置有永磁体和产生交变磁场的磁场发生部;多个检测线圈,其检测交变磁场并输出多个检测信号;引导用磁场发生装置,其相对于用于配设多个检测线圈的规定的面而言配置在探测体的检测对象区域的相反侧,具有产生探测体的引导用磁场的磁场发生源以及用于使磁场发生源的位置和姿势中的至少一个变化的驱动机构,磁场发生源或驱动机构的至少一部分包含产生干扰磁场的导电体;引导用磁场控制装置,其对驱动机构的动作进行控制;以及位置检测运算装置,其使用基于驱动机构的控制信号决定的导电体的位置和姿势中的至少一个,来计算探测体的位置和姿势中的至少一个。

    位置检测系统
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106470591B

    公开(公告)日:2018-05-18

    申请号:CN201580035060.X

    申请日:2015-11-06

    Abstract: 位置检测系统具备:胶囊型内窥镜,其内部设置有标记线圈,该标记线圈形成谐振电路的一部分,通过电流流过而产生磁场;多个感测线圈,各感测线圈检测由标记线圈产生的磁场并输出检测信号;参照线圈,其配置在针对由标记线圈产生的磁场的信噪比小于由多个感测线圈检测出的检测信号中的信噪比的位置;以及运算部,其使用基于从参照线圈输出的检测信号的磁场检测值,来对基于分别从多个感测线圈输出的多个检测信号的磁场检测值进行校正,使用校正后的磁场检测值来计算胶囊型内窥镜的位置。

    位置检测系统以及位置检测方法

    公开(公告)号:CN107205612B

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201580072887.8

    申请日:2015-11-06

    Abstract: 位置检测系统具备:胶囊型内窥镜,其设置有用于产生位置检测用磁场的磁场发生部;多个检测线圈,所述多个检测线圈检测磁场;金属架,其通过位置检测用磁场的作用而产生磁场;磁场校正部,其对由多个检测线圈分别检测出的磁场的测定值进行校正;校正系数存储部,其存储该校正中使用的校正系数;以及位置计算部,其使用由磁场校正部校正后的测定值来计算胶囊型内窥镜的位置和姿势中的至少一方,其中,校正系数是在配置了金属架的状态下由多个检测线圈分别输出的位置检测用磁场的测定值与在没有配置金属架的状态下由多个检测线圈分别检测出的位置检测用磁场的测定值的函数。

    磁场检测装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105408757A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201480041601.5

    申请日:2014-12-01

    Inventor: 铃木优辅

    CPC classification number: G01R33/063 G01R33/022 G01R33/20 G01R33/3628

    Abstract: 提供一种能够以高SN比检测从标记线圈产生的交变磁场的磁场检测装置。磁场检测装置(1)具备:谐振电路(10),其具有将交变磁场的磁场信号变换为电压信号的卷绕状的线圈(11)以及与该线圈(11)并联连接的电容器(12);串联连接在该谐振电路(10)的后级的电容器(20);以及连接在该电容器(20)的后级的低噪声放大器(30),其中,电容器(20)具有符号与交变磁场的检测频率下的谐振电路(10)的阻抗的虚部的符号相反的电抗,谐振电路(10)和电容器(20)的合成阻抗的绝对值小于线圈(11)的内阻。

    磁场检测装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105408757B

    公开(公告)日:2018-01-05

    申请号:CN201480041601.5

    申请日:2014-12-01

    Inventor: 铃木优辅

    CPC classification number: G01R33/063 G01R33/022 G01R33/20 G01R33/3628

    Abstract: 提供一种能够以高SN比检测从标记线圈产生的交变磁场的磁场检测装置。磁场检测装置(1)具备:谐振电路(10),其具有将交变磁场的磁场信号变换为电压信号的卷绕状的线圈(11)以及与该线圈(11)并联连接的电容器(12);串联连接在该谐振电路(10)的后级的电容器(20);以及连接在该电容器(20)的后级的低噪声放大器(30),其中,电容器(20)具有符号与交变磁场的检测频率下的谐振电路(10)的阻抗的虚部的符号相反的电抗,谐振电路(10)和电容器(20)的合成阻抗的绝对值小于线圈(11)的内阻。

    位置检测系统以及引导系统

    公开(公告)号:CN106999004A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:CN201680003439.7

    申请日:2016-03-29

    Inventor: 铃木优辅

    Abstract: 位置检测系统(1)具备:胶囊型内窥镜(10),其内部设置有用于产生位置检测用磁场的磁场产生部;多个检测线圈(Cn),其检测位置检测用磁场并输出检测信号;金属板(25),其配置在相对于多个检测线圈(Cn)与胶囊型内窥镜(10)的检测对象区域相反的一侧且覆盖多个检测线圈(Cn)的开口面的范围内,该金属板(25)能够通过位置检测用磁场的作用来产生磁场;以及运算装置(40)。运算装置(40)具备:磁场校正部,其使用由金属板(25)产生的磁场成分来对从多个检测线圈(Cn)分别输出的多个检测信号的测定值进行校正;以及位置计算部,其使用由该磁场校正部校正后的多个检测信号的测定值,来计算胶囊型内窥镜(10)的位置和方向中的至少一方。由此,提供一种即使在位置检测系统中使用金属构件的情况下也能够进行高精度的位置检测的位置检测系统等。

    位置检测系统
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106470591A

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201580035060.X

    申请日:2015-11-06

    Abstract: 位置检测系统具备:胶囊型内窥镜,其内部设置有标记线圈,该标记线圈形成谐振电路的一部分,通过电流流过而产生磁场;多个感测线圈,各感测线圈检测由标记线圈产生的磁场并输出检测信号;参照线圈,其配置在针对由标记线圈产生的磁场的信噪比小于由多个感测线圈检测出的检测信号中的信噪比的位置;以及运算部,其使用基于从参照线圈输出的检测信号的磁场检测值,来对基于分别从多个感测线圈输出的多个检测信号的磁场检测值进行校正,使用校正后的磁场检测值来计算胶囊型内窥镜的位置。

    图像处理装置、图像处理装置的工作方法以及图像处理装置的工作程序

    公开(公告)号:CN113164006A

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN201880099982.0

    申请日:2018-12-10

    Abstract: 图像处理装置具有:位置计算部,其计算表示被导入到消化道内的胶囊型内窥镜分别拍摄多个图像的位置的位置信息,并计算各图像间的所述位置信息的变化量;方向检测部,其检测分别拍摄所述多个图像时的所述胶囊型内窥镜在管腔方向上的移动量;以及模型生成部,其根据所述位置信息的变化量和所述在管腔方向上的移动量从所述位置信息中选择第1位置信息,使用该第1位置信息生成所述消化道的形状模型。由此,提供能够生成降低了消化道的蠕动运动的影响的消化道的形状模型的图像处理装置。

    位置检测系统以及引导系统

    公开(公告)号:CN106999004B

    公开(公告)日:2018-11-20

    申请号:CN201680003439.7

    申请日:2016-03-29

    Inventor: 铃木优辅

    Abstract: 位置检测系统(1)具备:胶囊型内窥镜(10),其内部设置有用于产生位置检测用磁场的磁场产生部;多个检测线圈(Cn),其检测位置检测用磁场并输出检测信号;金属板(25),其配置在相对于多个检测线圈(Cn)与胶囊型内窥镜(10)的检测对象区域相反的一侧且覆盖多个检测线圈(Cn)的开口面的范围内,该金属板(25)能够通过位置检测用磁场的作用来产生磁场;以及运算装置(40)。运算装置(40)具备:磁场校正部,其使用由金属板(25)产生的磁场成分来对从多个检测线圈(Cn)分别输出的多个检测信号的测定值进行校正;以及位置计算部,其使用由该磁场校正部校正后的多个检测信号的测定值,来计算胶囊型内窥镜(10)的位置和方向中的至少一方。由此,提供一种即使在位置检测系统中使用金属构件的情况下也能够进行高精度的位置检测的位置检测系统等。

    位置检测系统以及位置检测方法

    公开(公告)号:CN107205612A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201580072887.8

    申请日:2015-11-06

    CPC classification number: A61B1/00

    Abstract: 位置检测系统具备:胶囊型内窥镜,其设置有用于产生位置检测用磁场的磁场发生部;多个检测线圈,所述多个检测线圈检测磁场;金属架,其通过位置检测用磁场的作用而产生磁场;磁场校正部,其对由多个检测线圈分别检测出的磁场的测定值进行校正;校正系数存储部,其存储该校正中使用的校正系数;以及位置计算部,其使用由磁场校正部校正后的测定值来计算胶囊型内窥镜的位置和姿势中的至少一方,其中,校正系数是在配置了金属架的状态下由多个检测线圈分别输出的位置检测用磁场的测定值与在没有配置金属架的状态下由多个检测线圈分别检测出的位置检测用磁场的测定值的函数。

Patent Agency Ranking