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公开(公告)号:CN110651394B
公开(公告)日:2022-05-17
申请号:CN201880033882.8
申请日:2018-05-18
Applicant: 大金工业株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 提供能够容易地将电介质波导线路与对方部件连接,并且可形成高频信号的传送损失和反射损失小的连接结构的带连接器的电介质波导线路。一种带连接器的电介质波导线路,其具有电介质波导线路和连接器,其特征在于,上述电介质波导线路由电介质波导线路主体和电介质波导线路端部构成,上述电介质波导线路端部的截面积比上述电介质波导线路主体的截面积小。
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公开(公告)号:CN109792101B
公开(公告)日:2022-05-17
申请号:CN201780056914.1
申请日:2017-09-29
Applicant: 大金工业株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 提供电介质波导线路,其是用于传送毫米波或亚毫米波的电介质波导线路,即使在线路径小的情况下,加工和连接也容易,并且可形成高频信号的传送损失和反射损失小的连接结构。一种电介质波导线路,其特征在于,具有电介质波导线路主体和介电常数低于所述电介质波导线路主体的电介质波导线路端部,所述电介质波导线路主体与所述电介质波导线路端部由同一材料无接缝地一体形成。
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公开(公告)号:CN110651394A
公开(公告)日:2020-01-03
申请号:CN201880033882.8
申请日:2018-05-18
Applicant: 大金工业株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 提供能够容易地将电介质波导线路与对方部件连接,并且可形成高频信号的传送损失和反射损失小的连接结构的带连接器的电介质波导线路。一种带连接器的电介质波导线路,其具有电介质波导线路和连接器,其特征在于,上述电介质波导线路由电介质波导线路主体和电介质波导线路端部构成,上述电介质波导线路端部的截面积比上述电介质波导线路主体的截面积小。
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公开(公告)号:CN109792101A
公开(公告)日:2019-05-21
申请号:CN201780056914.1
申请日:2017-09-29
Applicant: 大金工业株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 提供电介质波导线路,其是用于传送毫米波或亚毫米波的电介质波导线路,即使在线路径小的情况下,加工和连接也容易,并且可形成高频信号的传送损失和反射损失小的连接结构。一种电介质波导线路,其特征在于,具有电介质波导线路主体和介电常数低于所述电介质波导线路主体的电介质波导线路端部,所述电介质波导线路主体与所述电介质波导线路端部由同一材料无接缝地一体形成。
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公开(公告)号:CN110446919A
公开(公告)日:2019-11-12
申请号:CN201880018524.X
申请日:2018-03-01
Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 预先准备表示当使未混入异物的被检测对象穿过传输高频信号时的传输线路(11)的周围空间产生的电磁场时得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的各变化量之比的分布状态的直线的梯度,作为比较的基准。分析装置(13)对比较的基准与对异物的混入不明的被检测对象(20)同样地得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的直线的梯度进行比较,当不同时,检测为该被检测对象(20)中含有异物。
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公开(公告)号:CN113155685A
公开(公告)日:2021-07-23
申请号:CN202110088086.8
申请日:2021-01-22
Applicant: 日置电机株式会社 , 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 本发明提供能在短时间内准确地判断混合液所包含的粒子的粒子径的均匀性的均匀性输出装置、均匀性输出方法及程序。输出在液体(Xa)中混合有不溶性的固体物质(Xb)的浆料(Xc)中的粒子的均匀性的均匀性输出装置(1)具备:一对电极(2),对浆料(Xc)施加交流电压;测定部(31),基于在对浆料(Xc)施加了使频率变化的交流电压时流过浆料(Xc)的响应电流,测定浆料(Xc)的阻抗;以及处理部(35),基于根据频率在测定部(31)中测定到的阻抗,执行将电阻器(R1)与电容器(C1)的并联电路(RC1)作为要素来包含的粒子等效电路解析,由此判断均匀性。
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公开(公告)号:CN110446919B
公开(公告)日:2022-04-01
申请号:CN201880018524.X
申请日:2018-03-01
Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所
Abstract: 预先准备表示当使未混入异物的被检测对象穿过传输高频信号时的传输线路(11)的周围空间产生的电磁场时得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的各变化量之比的分布状态的直线的梯度,作为比较的基准。分析装置(13)对比较的基准与对异物的混入不明的被检测对象(20)同样地得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的直线的梯度进行比较,当不同时,检测为该被检测对象(20)中含有异物。
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