公开(公告)号：CN110446919A

公开(公告)日：2019-11-12

申请号：CN201880018524.X

申请日：2018-03-01

Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 昆盛太郎 ,  堀部雅弘 ,  永石博志

IPC: G01N22/00 ,  G01N22/02

Abstract: 预先准备表示当使未混入异物的被检测对象穿过传输高频信号时的传输线路(11)的周围空间产生的电磁场时得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的各变化量之比的分布状态的直线的梯度，作为比较的基准。分析装置(13)对比较的基准与对异物的混入不明的被检测对象(20)同样地得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的直线的梯度进行比较，当不同时，检测为该被检测对象(20)中含有异物。

公开(公告)号：CN110446919B

公开(公告)日：2022-04-01

申请号：CN201880018524.X

申请日：2018-03-01

Applicant: 国立研究开发法人产业技术综合研究所

Inventor： 昆盛太郎 ,  堀部雅弘 ,  永石博志

IPC: G01N22/00 ,  G01N22/02

Abstract: 预先准备表示当使未混入异物的被检测对象穿过传输高频信号时的传输线路(11)的周围空间产生的电磁场时得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的各变化量之比的分布状态的直线的梯度，作为比较的基准。分析装置(13)对比较的基准与对异物的混入不明的被检测对象(20)同样地得到的高频信号的S参数的实部和虚部的二维坐标中的直线的梯度进行比较，当不同时，检测为该被检测对象(20)中含有异物。