适用于X射线断层扫描的压缩装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119779848A

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202510227725.2

    申请日:2025-02-27

    Abstract: 本发明公开了一种适用于X射线断层扫描的压缩装置,涉及材料力学性能测试领域,包括外壳、手动加载部件、压缩冲头、弹性部件、样品台、压力监测部件和底座,弹性部件套设于第二压缩杆上,第一压缩杆安装于第一孔段中,第二压缩杆安装于第一孔段和第二孔段中,且能够伸至X射线透过筒体中,压缩冲头能够沿上筒体的轴向滑动,且压缩冲头与上筒体周向固定,手动加载部件安装于顶部孔段中,且能够使得压缩冲头向下移动;底座能够拆卸地安装于下筒体的底部,样品台通过压力监测部件与底座连接,样品台的上部位于X射线透过筒体中。该装置有效实现了薄膜材料样品在压缩过程中的均匀受力,达到了高精度的实验目的,结构简单,制造成本低。

    X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备

    公开(公告)号:CN107132243B

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN201710268956.3

    申请日:2017-04-24

    Abstract: 本发明提供了一种X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备,属于制样工具技术领域,用于X射线荧光光谱检测过程中微量粉末样品的制备。针对无法制备标准样品的微量粉末,传统的解决办法是将微量粉末与粘结剂混合以制备标准样品。但这种方法会引入新的杂质,增大分析误差,影响轻元素和痕量元素的检测下限。为此,本发明通过在粘结剂中压出盛放微量粉末的圆形槽,使待测微量粉末集中在粘结剂的中上部,避免待测微量粉末被稀释,从而提高了检测精度。

    X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备

    公开(公告)号:CN107132243A

    公开(公告)日:2017-09-05

    申请号:CN201710268956.3

    申请日:2017-04-24

    CPC classification number: G01N23/223 G01N1/286

    Abstract: 本发明提供了一种X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备,属于制样工具技术领域,用于X射线荧光光谱检测过程中微量粉末样品的制备。针对无法制备标准样品的微量粉末,传统的解决办法是将微量粉末与粘结剂混合以制备标准样品。但这种方法会引入新的杂质,增大分析误差,影响轻元素和痕量元素的检测下限。为此,本发明通过在粘结剂中压出盛放微量粉末的圆形槽,使待测微量粉末集中在粘结剂的中上部,避免待测微量粉末被稀释,从而提高了检测精度。

    一种多环境氛围通用原子力显微镜探针夹装置及其使用方法

    公开(公告)号:CN118483453A

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202410762390.X

    申请日:2024-06-13

    Abstract: 本发明提供一种多环境氛围通用原子力显微镜探针夹装置及其使用方法,装置包括主体和石英挡板,石英挡板可拆卸连接在主体的下端,主体的内部从上至下开有贯通的圆锥形空腔,圆锥形空腔从上至下进行渐缩;主体的上端嵌入至扫描头中,主体的上部侧边与扫描头固定安装,主体的下方一侧安装有不锈钢金属夹片,不锈钢金属夹片的下方用于压住原子力探针。本发明可显著提高大气环境成像分辨率,可增加液下下潜深度,扩大测试范围,且具有便于加工,成本低,易于维护修补,不再依赖国外原厂昂贵配件的优点。

    一种适用于变温瞬态稳态荧光光谱仪的多功能样品装置

    公开(公告)号:CN219573890U

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202320450711.3

    申请日:2023-03-10

    Abstract: 一种适用于变温瞬态稳态荧光光谱仪的多功能样品装置,包括框架、主杆、托盘,所述主杆底部与所述托盘固定连接,所述托盘用于收集待测样品散落的粉末,所述框架的底板具有供所述主杆穿过的通孔,所述主杆的顶部通过所述通孔穿过所述框架,并与所述框架的底板固定连接,所述主杆位于所述框架中的部分连接有多个连接装置,且每个连接装置固定有样品槽,所述连接装置将所述样品槽抵接于所述框架内壁,所述样品槽用于存放待测样品,所述框架对应所述样品槽位置为镂空设计,本实用新型可以一次性放置多个待测样品,以及包括微量样品检测能力,并简化测试流程、节省测试时间,能保护仪器不被样品污染延长其使用寿命。

    X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备

    公开(公告)号:CN206696208U

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201720429246.X

    申请日:2017-04-24

    Abstract: 本实用新型提供了一种X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备,属于制样工具技术领域,用于X射线荧光光谱检测过程中微量粉末样品的制备。针对无法制备标准样品的微量粉末,传统的解决办法是将微量粉末与粘结剂混合以制备标准样品。但这种方法会引入新的杂质,增大分析误差,影响轻元素和痕量元素的检测下限。为此,本实用新型通过在粘结剂中压出盛放微量粉末的圆形槽,使待测微量粉末集中在粘结剂的中上部,避免待测微量粉末被稀释,从而提高了检测精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

Patent Agency Ranking