测量系统
    2.
    发明公开
    测量系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN117769637A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202280053775.8

    申请日:2022-07-19

    Abstract: 本发明提供一种标记容易制造且能够进行高精度的测量的测量系统。测量系统(500)所测量的标记(1)具备:基材层(10);第1层(20),其层叠在基材层(10)的一个面上,被观察为第1颜色;以及第2层(30),其局部地层叠在第1层(20)上,被观察为与第1颜色不同的第2颜色,并且局部地遮蔽第1层(20),第1层(20)在未层叠第2层(30)的区域中能够被观察到,第2层(30)由抗蚀剂材料构成。

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