公开(公告)号：CN103176114B

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201210551603.1

申请日：2012-12-18

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山明纪

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种预烧装置。预烧装置（10）包括将电子部件安装为能够装卸的托板（11）和装置本体（12）。托板（11）包括：插座本体（31），其具备电绝缘性，形成有可供插入连接端子（24）的插入孔（56）；插座电极部（32），其设置在插座本体（31）上，并与插入到插入孔（56）的连接端子（24）接触而电连接；托板导热部（33），其埋设有插座本体（31），在将连接端子（24）插入插入孔（56）的状态下本体部与其接触。装置本体（12）具有：本体电极部（41），其与插座电极部（32）接触而电连接；驱动电路（42），其经由本体电极部（41）向电子部件供给驱动电流；温度调整部（43），其与托板导热部（33）接触，调整托板导热部（33）的温度。

公开(公告)号：CN103176114A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201210551603.1

申请日：2012-12-18

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山明纪

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种预烧装置。预烧装置（10）包括将电子部件安装为能够装卸的托板（11）和装置本体（12）。托板（11）包括：插座本体（31），其具备电绝缘性，形成有可供插入连接端子（24）的插入孔（56）；插座电极部（32），其设置在插座本体（31）上，并与插入到插入孔（56）的连接端子（24）接触而电连接；托板导热部（33），其埋设有插座本体（31），在将连接端子（24）插入插入孔（56）的状态下本体部与其接触。装置本体（12）具有：本体电极部（41），其与插座电极部（32）接触而电连接；驱动电路（42），其经由本体电极部（41）向电子部件供给驱动电流；温度调整部（43），其与托板导热部（33）接触，调整托板导热部（33）的温度。

公开(公告)号：CN105283164B

公开(公告)日：2017-10-10

申请号：CN201480030217.5

申请日：2014-07-23

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 松本刚英 ,  藤田英明 ,  上山明纪 ,  松冈祐树

IPC: A61H3/04

CPC classification number: A61H3/04 ,  A61H2003/043 ,  A61H2003/046 ,  A61H2201/0173 ,  A61H2201/5033 ,  A61H2201/5061 ,  A61H2201/5064 ,  A61H2201/5079 ,  B60W30/16 ,  B60W2750/308

Abstract: 步行辅助装置具备：基体；驱动部，其使基体移动；距离检测部，其检测从基体到使用者的距离；安全距离范围设定部，其将使用者安全步行时从基体到使用者的距离范围设定为安全距离范围；步行状态判定部，其判定由距离检测部检测出的距离是否是安全距离范围外；以及控制部，其在步行状态判定部判定为由距离检测部检测出的距离是安全距离范围外的情况下控制驱动部。步行辅助装置具备检测由距离检测部检测出的距离比规定距离小的情况的接近判定部，在接近判定部检测出由距离检测部检测出的距离比规定距离小的情况下，由控制部控制驱动部。

公开(公告)号：CN104603626A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201380046158.6

申请日：2013-07-26

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山明纪

IPC: G01R31/26 ,  H01S5/00

CPC classification number: G01R31/2886 ,  H01L2224/48091 ,  H01S5/0021 ,  H01S5/02212 ,  H01S5/02236 ,  H01S5/02476 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明提供一种试验装置，能够使用易于维护管理的夹具，进行质量不良判定时的损失为最小限度的试验。试验装置(20)针对的被试验体(1)是与基座(3)接合的半导体芯片(2)，在装卸自如地配备于试验装置(20)的试验用夹具(10)中，在托架(11)上载置被试验体(1)，将接触块(12)装卸自如地安装于托架(11)，接触块(12)的接触部件与被试验体(1)电连接。在试验装置(20)中，控制保持被试验体(1)的试验用夹具(10)的温度环境，同时经由试验用夹具(10)的接触块(12)对由试验用夹具(10)保持的被试验体(1)供给用于驱动被试验体(1)的电力，测定响应于供电而驱动的被试验体(1)的驱动结果。

公开(公告)号：CN104603626B

公开(公告)日：2017-03-08

申请号：CN201380046158.6

申请日：2013-07-26

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 上山明纪

IPC: G01R31/26 ,  H01S5/00

CPC classification number: G01R31/2886 ,  H01L2224/48091 ,  H01S5/0021 ,  H01S5/02212 ,  H01S5/02236 ,  H01S5/02476 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明提供一种试验装置，能够使用易于维护管理的夹具，进行质量不良判定时的损失为最小限度的试验。试验装置(20)针对的被试验体自如地配备于试验装置(20)的试验用夹具(10)中，在托架(11)上载置被试验体(1)，将接触块(12)装卸自如地安装于托架(11)，接触块(12)的接触部件与被试验体(1)电连接。在试验装置(20)中，控制保持被试验体(1)的试验用夹具(10)的温度环境，同时经由试验用夹具(10)的接触块(12)对由试验用夹具(10)保持的被试验体(1)供给用于驱动被试验体(1)的电力，测定响应于供电而驱动的被试验体(1)的驱动结果。(1)是与基座(3)接合的半导体芯片(2)，在装卸

公开(公告)号：CN105283164A

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201480030217.5

申请日：2014-07-23

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 松本刚英 ,  藤田英明 ,  上山明纪 ,  松冈祐树

IPC: A61H3/04

CPC classification number: A61H3/04 ,  A61H2003/043 ,  A61H2003/046 ,  A61H2201/0173 ,  A61H2201/5033 ,  A61H2201/5061 ,  A61H2201/5064 ,  A61H2201/5079 ,  B60W30/16 ,  B60W2750/308

Abstract: 步行辅助装置具备：基体；驱动部，其使基体移动；距离检测部，其检测从基体到使用者的距离；安全距离范围设定部，其将使用者安全步行时从基体到使用者的距离范围设定为安全距离范围；步行状态判定部，其判定由距离检测部检测出的距离是否是安全距离范围外；以及控制部，其在步行状态判定部判定为由距离检测部检测出的距离是安全距离范围外的情况下控制驱动部。步行辅助装置具备检测由距离检测部检测出的距离比规定距离小的情况的接近判定部，在接近判定部检测出由距离检测部检测出的距离比规定距离小的情况下，由控制部控制驱动部。