公开(公告)号：CN117740810A

公开(公告)日：2024-03-22

申请号：CN202410138923.7

申请日：2024-02-01

Applicant: 复旦大学

Inventor： 李晶 ,  蔡云豪 ,  方祎 ,  魏慎金 ,  张腾飞

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明提出的是一种基于激光剪切散斑干涉的缺陷检测方法，该方法包括：1)、利用相干光源被待测样品散射形成加载前散射光；2)、形成加载前剪切散斑干涉图像；3)、获取加载前剪切散斑干涉图像的相位分布图；4)、对样品台上的待测样品进行压力加载，形成加载后散射光；5)、形成加载后剪切散斑干涉图像；6)、获取加载后剪切散斑干涉图像的相位分布图；7)、得到相位差图；8)、通过相位差图、位移导数、缺陷三者之间建立的联系，得到缺陷在待测样品上的位置分布信息；一种基于激光剪切散斑干涉的缺陷无损检测系统包括激光光源单元，位移平台，光路单元，CCD相机，光学平板单元6；本发明能够对复合材料进行缺陷位置检测。

公开(公告)号：CN118548817A

公开(公告)日：2024-08-27

申请号：CN202410774734.9

申请日：2024-06-17

Applicant: 复旦大学

Inventor： 李晶 ,  方祎 ,  魏慎金 ,  蔡云豪 ,  张腾飞

IPC: G01B11/16 ,  G01B11/26

Abstract: 本发明提出的是一种对物体表面变形及斜率进行同步测量的装置及方法，本发明装置的结构包括第一激光光源单元(1‑1)，第二激光光源单元(1‑2)，样品台(3)，参考光路单元(4)，剪切装置单元(5)，成像单元(6)；所述参考光路单元(4)包括第一聚焦透镜(4b)、单模光纤(4c)、第二聚焦透镜(4d)；所述剪切装置单元(5)包括可调孔径光阑(5a)、成像透镜(5b)、放大透镜(5c)、第二立方分束棱镜(4e)、第三立方分束棱镜(5d)、无载波平面反射镜(5e)、引载波平面反射镜(5f)；本发明方法能同时测量被测物体的形变大小及形变处的形变斜率。