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公开(公告)号:CN103274435B
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201310191783.1
申请日:2013-05-22
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于晶体管制备技术领域,具体为一种氧化铝钛薄膜及其制备方法和应用。本发明采用溶胶凝胶法制备氧化铝钛薄膜。本发明以乙二醇单甲醚为溶剂,浓盐酸为添加剂,将Al(C4H9O)3、Ti(C4H9O)4溶解其中,形成澄清稳定的前驱体溶液;将前驱体溶液旋转涂覆于玻璃基板上,经预热处理及后续高温热处理得到氧化铝钛薄膜。本还涉及采用氧化铝钛作为栅介质层的薄膜晶体管的制备方法。以此作为栅介质层材料的IZO薄膜晶体管,开关电流比大于1×106,饱和迁移率大于1.1cm2/Vs,亚阈值摆幅小于1.5V/dec。
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公开(公告)号:CN103489766A
公开(公告)日:2014-01-01
申请号:CN201310420583.9
申请日:2013-09-16
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L21/28 , H01L21/288 , H01L29/51 , H01L29/786
CPC classification number: H01L29/517 , H01L29/401 , H01L29/786
Abstract: 本发明属于氧化物介质层薄膜技术领域,具体为一种氧化镁钛高介电常数薄膜及其制备方法和应用。本发明以乙二醇单甲醚为溶剂,浓盐酸为稳定剂,将Mg(OC2H5)2、Ti(C4H9O)4溶解其中,形成澄清稳定的前驱体溶液;将前驱体溶液旋转涂覆于玻璃基板上,经预热处理及后续高温热处理得到氧化镁钛薄膜。本发明还涉及采用氧化镁钛作为栅介质层的薄膜晶体管。以氧化镁钛薄膜作为栅介质层材料的IZO薄膜晶体管,开关电流比为6×106,饱和迁移率为3.4cm2/Vs,亚阈值摆幅为0.32V/dec。
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公开(公告)号:CN103274435A
公开(公告)日:2013-09-04
申请号:CN201310191783.1
申请日:2013-05-22
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于晶体管制备技术领域,具体为一种氧化铝钛薄膜及其制备方法和应用。本发明采用溶胶凝胶法制备氧化铝钛薄膜。本发明以乙二醇单甲醚为溶剂,浓盐酸为添加剂,将Al(C4H9O)3、Ti(C4H9O)4溶解其中,形成澄清稳定的前驱体溶液;将前驱体溶液旋转涂覆于玻璃基板上,经预热处理及后续高温热处理得到氧化铝钛薄膜。本还涉及采用氧化铝钛作为栅介质层的薄膜晶体管的制备方法。以此作为栅介质层材料的IZO薄膜晶体管,开关电流比大于1×106,饱和迁移率大于1.1cm2/Vs,亚阈值摆幅小于1.5V/dec。
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公开(公告)号:CN102768945A
公开(公告)日:2012-11-07
申请号:CN201210240746.0
申请日:2012-07-12
Applicant: 复旦大学
IPC: H01L21/02
Abstract: 本发明属于半导体薄膜制备技术领域,具体为一种溶胶凝胶法制备氧化铟镓锌(IGZO)半导体薄膜的低温处理方法。本发明以乙二醇单甲醚为溶剂,单乙醇胺为稳定剂,将In(NO3)3·4.5H2O、Ga(NO3)3·4.5H2O、Zn(C2H3O2)2·5H2O溶解其中,形成澄清稳定前驱体溶液;将前驱体溶液旋转涂覆于玻璃基板上,在红外加热灯下照射得到平整透明的IGZO半导体薄膜。与传统溶胶凝胶法利用热板退火制备IGZO薄膜相比,利用红外加热灯照射的IGZO薄膜具备更优良的半导体及光学性能,且工艺温度更低,小于250℃。以此IGZO薄膜作为沟道层材料的薄膜晶体管,开关电流比大于5×106,饱和迁移率大于1.8cm2/Vs,亚阈值摆幅小于2.2V/dec。
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