-
公开(公告)号:CN101995546B
公开(公告)日:2013-02-27
申请号:CN201010545055.2
申请日:2010-11-16
Applicant: 复旦大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3183
Abstract: 本发明属于电子技术领域,具体为一种基于边界扫描的可编程逻辑器件自动测试系统与方法。所述测试方法包括芯片配置文件的生成、下载配置FPGA芯片、测试向量的生成和加载,以及测试结果比较等,并构建了相应的测试系统,全部实现自动化。本发明由软件自动生成用户待测项目的测试向量,结合JTAG自动下载测试软件实现对用户电路的硬件功能在线测试。使用脚本化测试环境,使得一系列繁琐的人工测试操作转化为全自动的软件流程,大大提升测试的速度和准确性。
-
公开(公告)号:CN101995546A
公开(公告)日:2011-03-30
申请号:CN201010545055.2
申请日:2010-11-16
Applicant: 复旦大学
IPC: G01R31/317 , G01R31/3183
Abstract: 本发明属于电子技术领域,具体为一种基于边界扫描的可编程逻辑器件自动测试系统与方法。所述测试方法包括芯片配置文件的生成、下载配置FPGA芯片、测试向量的生成和加载,以及测试结果比较等,并构建了相应的测试系统,全部实现自动化。本发明由软件自动生成用户待测项目的测试向量,结合JTAG自动下载测试软件实现对用户电路的硬件功能在线测试。使用脚本化测试环境,使得一系列繁琐的人工测试操作转化为全自动的软件流程,大大提升测试的速度和准确性。
-