用于确定光谱中的峰强度或峰偏移的方法和系统

    公开(公告)号:CN114127540B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202080051603.8

    申请日:2020-07-30

    IPC分类号: G01N21/27 G01J3/18 G01J3/28

    摘要: 一种确定光谱中的峰强度的方法,所述方法包括:通过将所述光谱成像到检测器阵列(13)上产生光谱值的二维阵列(20);选择光谱值的所述阵列中的第一二维子阵列(21),使得所述子阵列包含所述光谱的第一峰(1),所述第一峰具有预期位置;在所述第一子阵列(21)内内插所述光谱值以产生第一内插子阵列;通过使用所述第一内插子阵列确定所述第一峰(1)的实际位置;通过使用所述第一峰的所述实际位置和所述预期位置确定偏移;通过使用所述偏移来调整所述光谱的第二峰(2)的预期位置;选择光谱值的所述阵列中的第二二维子阵列(22),使得所述第二子阵列包含所述第二峰(2),所述第二峰具有调整后的预期位置;以及在所述第二子阵列(22)内使用内插光谱值以产生所述第二峰的峰强度值。

    二维光谱中的峰确定
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114127540A

    公开(公告)日:2022-03-01

    申请号:CN202080051603.8

    申请日:2020-07-30

    IPC分类号: G01N21/27

    摘要: 一种确定光谱中的峰强度的方法,所述方法包括:通过将所述光谱成像到检测器阵列(13)上产生光谱值的二维阵列(20);选择光谱值的所述阵列中的第一二维子阵列(21),使得所述子阵列包含所述光谱的第一峰(1),所述第一峰具有预期位置;在所述第一子阵列(21)内内插所述光谱值以产生第一内插子阵列;通过使用所述第一内插子阵列确定所述第一峰(1)的实际位置;通过使用所述第一峰的所述实际位置和所述预期位置确定偏移;通过使用所述偏移来调整所述光谱的第二峰(2)的预期位置;选择光谱值的所述阵列中的第二二维子阵列(22),使得所述第二子阵列包含所述第二峰(2),所述第二峰具有调整后的预期位置;以及在所述第二子阵列(22)内使用内插光谱值以产生所述第二峰的峰强度值。

    校准质谱仪
    3.
    发明公开
    校准质谱仪 审中-公开

    公开(公告)号:CN118435315A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202280084619.8

    申请日:2022-12-16

    发明人: H-J·舒鲁特

    IPC分类号: H01J49/00 H01J49/02

    摘要: 公开了一种校准质谱仪的方法,该质谱仪包括具有第一离子强度测量范围(IDR1)的第一类型的至少一个离子检测器和具有第二离子强度测量范围(IDR2)的第二类型的至少一个离子检测器。该第一离子强度测量范围和该第二离子强度测量范围共享重叠范围(IDR0)。该方法可包括:‑检测清洗周期(WP);‑在清洗周期期间和/或之后,利用第一类型的至少一个离子检测器和第二类型的至少一个离子检测器两者测量离子强度,以分别生成第一测量离子强度和第二测量离子强度;以及‑使用第一测量离子强度和第二测量离子强度确定检测器校准因子。

    加热的传输线
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106898537B

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201611175749.5

    申请日:2016-12-19

    IPC分类号: H01J49/04 G01N30/72 H05B3/56

    摘要: 一种柔性的轻重量气相色谱法传输线,其适合于将气相色谱仪(GC)连接到谱仪,例如质谱仪或光谱仪,具体来说,连接到所述谱仪的离子源,例如电感耦合等离子体(ICP)离子源。所述传输线具有允许保持均匀温度分布的加热布置,这改进谱的质量。所述传输线具有较小的热质量,并且可以通过所述GC的控制单元控制加热。