公开(公告)号：CN105717473A

公开(公告)日：2016-06-29

申请号：CN201510951891.3

申请日：2015-12-18

Applicant: 基思利仪器公司

Inventor： M.J.赖斯

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明涉及用于对测量非线性度的自校准的方法。一种用于校准具有初始输出电压水平和开放输出中继的测试仪器的方法可以包括针对一定的电流水平对测试仪器进行编程，启动定时器，以及（响应于测试仪器输入依从性）停止定时器以确定初始时间间隔。该方法也可以包括确定时间间隔是否在期望范围内。

公开(公告)号：CN104244571B

公开(公告)日：2019-01-22

申请号：CN201410274826.7

申请日：2014-06-19

Applicant: 基思利仪器公司

Inventor： J.A.尼曼 ,  G.索波列夫斯基 ,  M.J.赖斯 ,  W.格克

IPC: H05K1/02 ,  H05K1/11 ,  H05K3/34 ,  H05K3/32

Abstract: 本发明涉及一种具有低电介质吸收的器件，其包括：印刷电路板（PCB）；组件连接区域，包括层叠在所述组件连接区域的顶表面上的第一导体以及层叠在所述组件连接区域的底表面上的第二导体；围绕所述组件连接区域的开口；跨过所述开口将组件连接区域连接到PCB的低泄漏组件；以及由在PCB的顶表面上至少基本上围绕所述开口的第三导体以及在PCB的底表面上至少基本上围绕所述开口的第四导体构成的防护件。

公开(公告)号：CN105717473B

公开(公告)日：2021-03-12

申请号：CN201510951891.3

申请日：2015-12-18

Applicant: 基思利仪器公司

Inventor： M.J.赖斯

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明涉及用于对测量非线性度的自校准的方法。一种用于校准具有初始输出电压水平和开放输出中继的测试仪器的方法可以包括针对一定的电流水平对测试仪器进行编程，启动定时器，以及（响应于测试仪器输入依从性）停止定时器以确定初始时间间隔。该方法也可以包括确定时间间隔是否在期望范围内。

公开(公告)号：CN104244571A

公开(公告)日：2014-12-24

申请号：CN201410274826.7

申请日：2014-06-19

Applicant: 基思利仪器公司

Inventor： J.A.尼曼 ,  G.索波列夫斯基 ,  M.J.赖斯 ,  W.格克

IPC: H05K1/02 ,  H05K1/11 ,  H05K3/34 ,  H05K3/32

CPC classification number: H05K1/0213 ,  H05K1/0225 ,  H05K1/0256 ,  H05K1/142 ,  H05K1/145 ,  H05K3/306 ,  H05K3/4038 ,  H05K3/4697 ,  H05K2201/0792 ,  H05K2201/09063 ,  H05K2201/093 ,  H05K2201/09618 ,  H05K2201/0969 ,  H05K2201/09981 ,  Y10T29/49139

Abstract: 本发明涉及一种具有低电介质吸收的器件，其包括：印刷电路板（PCB）；组件连接区域，包括层叠在所述组件连接区域的顶表面上的第一导体以及层叠在所述组件连接区域的底表面上的第二导体；围绕所述组件连接区域的开口；跨过所述开口将组件连接区域连接到PCB的低泄漏组件；以及由在PCB的顶表面上至少基本上围绕所述开口的第三导体以及在PCB的底表面上至少基本上围绕所述开口的第四导体构成的防护件。