公开(公告)号：CN101173972B

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN200710184831.9

申请日：2007-10-30

申请人： 国际商业机器公司 ,  索尼计算机娱乐公司

发明人： 桑格.H.唐 ,  布赖恩.弗拉克斯 ,  吉勒斯.格韦斯 ,  查尔斯.R.约翰斯 ,  布拉德.W.迈克尔 ,  爱川诚 ,  泷口严 ,  田村哲司

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3173

CPC分类号： G01R31/3004

摘要： 在一个实施例中，一种测试系统测试被测设备(DUT)。DUT包括执行内建自测(BIST)程序的内部测试控制器。内建自测程序包括基于阵列的自动内建自测程序、离散和组合逻辑内建自测程序、以及功能架构验证程序(AVP)。外部制造系统测试控制器管理DUT内的内部测试控制器，并且为向DUT供电的电源输入电压确定最小运行电压电平。逻辑仿真器提供建模能力，以进一步增强DUT的最小电压电源输入运行值的发展。