一种SiC MOSFET器件键合线老化监测电路及在线监测方法

    公开(公告)号:CN116626464A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310578346.9

    申请日:2023-05-22

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明公开一种SiC MOSFET器件键合线老化监测电路及在线监测方法,所述电路包括峰值检测电路、模数转换电路和控制运算单元;峰值检测电路包括第一峰值检测电路和第二峰值检测电路;第一峰值检测电路获取器件外部KS端子和S端子之间的电压VKS‑S,第二峰值检测电路获取器件电路中杂散电感上的电压VCIR;模数转换电路用于对峰值检测电路获取的电压值进行转换,并传给控制运算单元;控制运算单元发出指令,并对模数转换电路获取的数据进行计算,将VKS‑S和VCIR的比值作为SiC MOSFET器件键合线疲劳老化的特征量指标。具有构思巧妙,设计合理,结构简单等特点,能够在器件开通瞬态过程中提取出老化特征量并进行键合线老化监测。

    一种基于物理特性的SiC MOSFET器件静态模型

    公开(公告)号:CN117436390A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311547553.4

    申请日:2023-11-20

    IPC分类号: G06F30/367

    摘要: 发明公开一种基于物理特性的SiC MOSFET器件静态模型,包括漏极电流Id模型、沟道电压降Vds模型、栅源极有效电压Vgs模型以及反型层沟道载流子迁移率μ的模型。所述漏极电流Id模型在标准长沟道器件模型的基础上进行改良,通过对沟道调制效应、耗尽层体电荷效应等物理过程的表征;所述栅源极有效电压模型引入了栅源极有效电压Vgs,并通过渐进函数来表征界面态陷阱随外部栅源极电压VGS的升高而逐渐被载流子完全占据的过程。本模型通用性强,对不同类型的SiC MOSFET器件均有较好的表征效果;模型具有较高的准确度,且模型参数均具有一定的物理意义,有利于在本模型的基础上做更深入的研究;同时模型紧凑,仿真速度较快,适用于电路的仿真。

    一种SiC MOSFET器件栅极退化监测方法及监测电路

    公开(公告)号:CN116859205A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310888313.4

    申请日:2023-07-19

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明提供一种沟槽栅型SiC MOSFET器件栅极退化监测方法和监测电路。该方法利用SiC MOSFET器件第三象限零栅压、不同结温下的输出特性曲线交点处的体二极管压降作为特征量。在双脉冲电路中,下管待测SiC MOSFET器件的栅压始终保持零栅压;在电感电流通过下管待测SiC MOSFET器件续流时,侦测交点电流下待测SiC MOSFET器件的体二极管压降值,通过与全新器件在该交点电流下的体二极管压降值作对比以判断待测SiC MOSFET器件是否发生了栅极退化。本发明能够忽略结温的影响实现SiC MOSFET器件栅极退化的准确监测,且是一个很好的在线监测的候选方法,可以避免因停机检测造成的经济损失。

    一种提升Sic MOSFET器件短路耐受时间的电路及方法

    公开(公告)号:CN116599508A

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN202310578297.9

    申请日:2023-05-22

    摘要: 本发明公开了一种提升Sic MOSFET器件短路耐受时间的电路及方法,包括Sic MOSFET器件及其栅极驱动电路,还包括漏压分压模块和栅压钳位模块,其中,所述漏压分压模块设于Sic MOSFET器件的漏极和源级之间,所述栅压钳位模块设于Sic MOSFET器件的栅极和源级之间;所述栅压钳位模块包括MOS管T1,所述漏压分压模块与栅压钳位模块的MOS管T1的栅极相连,当Sic MOSFET器件的漏极与源级之间的电压超过阈值时,漏压分压模块能够触发栅压钳位模块工作;当栅压钳位模块工作时,能迅速将Sic MOSFET器件的驱动电压钳位在安全电压范围内,使Sic MOSFET器件的短路电流减小。本发明将SiC MOSFET的短路耐受时间延长到与IGBT相同的水平,并缩减了电路成本,便于推广应用。