一种芯片抗爆封装结构
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119890195A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510136807.6

    申请日:2025-02-07

    Abstract: 本发明提供了一种芯片抗爆封装结构,包括:精准击穿晶闸管芯片;所述的精准击穿晶闸管芯片的第一表面设有设置有阴极总成,精准击穿晶闸管芯片的第二表面设有设置有阳极总成,阴极总成与阳极总成之间安装有抗爆环,阳极总成、阴极总成与抗爆环形成第一腔体空间;所述的阴极总成与阳极总成之间设置有陶瓷伞裙,阳极总成外焊接有第一阳极焊接环与第一阴极连接环,阴极总成外焊接有第一阴极焊接环,阳极总成、第一阳极焊接环、陶瓷伞裙、第一阴极连接环、第一阴极焊接环、阴极总成组成第二腔体空间,本发明的芯片抗爆封装结构在保证通流能力的同时,在封装内部提供了足够的腔体空间,通过内部放置特殊装置抗爆环,提高了精准击穿晶闸管的抗爆能力。

    一种同轴低感测试夹具
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118818101A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202411112873.1

    申请日:2024-08-14

    Abstract: 本发明涉及在大功率半导体的测试领域应用到的一种同轴低感测试夹具,包括了压力框架结构、同轴电极结构、叠层引出结构,其中同轴电极结构和叠层引出结构搭载在压力框架结构上,同轴电极结构通过被测器件上下两个表面电极的电传导结构形成了上表面传导为芯,下表面传导为外围的同轴电极结构,叠层引出结构使得同轴结构的被测器件引出至电源测试柜之间形成叠层输出布线;本发明的有益效果是:兼顾了传统测试夹具的加热功能,且采用叠层引出结构和同轴电极结构,经实际实施验证后,很大程度上降低了测试回路的分布电感量,使用起来安全简单、高效实用、效果良好。

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