一种绝缘件表面缺陷微弱放电定位的光学视踪方法及系统

    公开(公告)号:CN117686858A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311704584.6

    申请日:2023-12-13

    IPC分类号: G01R31/12 G01R31/327

    摘要: 本发明公开了一种绝缘件表面缺陷微弱放电定位的光学视踪方法及系统,主要应用于GIS设备绝缘件表面缺陷的微弱局部放电检测和定位,为当前实际工程中局部放电检测灵敏度、抗干扰性能差的现状提供了一个可用的解决方案;本发明通过荧光光纤接收绝缘件表面微弱放电产生的光信号,借助SiPM完成光信号增益和光电转换,通过多路光信号强度的分析和计算,得到放电源的三维空间定位;本发明的有益效果是在目前GIS设备局部放电检测灵敏度低,抗干扰性能差的工程现状下,提供了一个基于光学检测的高灵敏度、抗干扰能力强、放电源可空间定位的新解决方案,可有效提升当前GIS设备局部放电检测的有效性和准确性。