公开(公告)号：CN117452175B

公开(公告)日：2024-09-24

申请号：CN202311753954.5

申请日：2023-12-20

申请人： 国科大杭州高等研究院

发明人： 胡伟达 ,  许相豹 ,  李庆 ,  仲方

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明提供的一种用于半导体光电器件微区带宽测试系统及方法，包括激光器、调制系统、确定性光路、精密位移控制器、前置放大器、锁相放大器和PC端控制模块。本发明的的一种用于半导体光电器件微区带宽测试系统及方法在传统的带宽测试方法上首次提出了器件扫描的方式来测量器件微区的带宽，通过此方法不仅可以减小传统方法因光照射器件微区不同而导致的带宽测量误差，还可以表征器件微区最佳工作点。本发明使用方便，适用范围广，易于维护，具有良好的应用前景。

公开(公告)号：CN118464203A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410450193.4

申请日：2024-04-15

申请人： 上海大学 ,  国科大杭州高等研究院

发明人： 邹沅辰 ,  许相豹 ,  李庆 ,  胡伟达

IPC分类号： G01J5/54 ,  G01J5/90 ,  G01R31/26

摘要： 本发明涉及一种用于测试红外光电探测器噪声的红外光源系统及测试方法，该系统包括直流电源模块、高精度电位器和红外光源，所述直流电源模块包括电池壳和位于电池壳内的直流电池，所述直流电池的正极与红外光源的输入端连接，负极与红外光源的输出端连接，所述高精度电位器连接在正极与红外光源输入端连接的电路上，用于调节直流电源模块的供电水平，以改变光强大小。与现有技术相比，本发明具有保证噪声测试精度的同时极大精简了设备装置，同时也极大的降低了设备成本等优点。

公开(公告)号：CN117452175A

公开(公告)日：2024-01-26

申请号：CN202311753954.5

申请日：2023-12-20

申请人： 国科大杭州高等研究院

发明人： 胡伟达 ,  许相豹 ,  李庆 ,  仲方

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明提供的一种用于半导体光电器件微区带宽测试系统及方法，包括激光器、调制系统、确定性光路、精密位移控制器、前置放大器、锁相放大器和PC端控制模块。本发明的的一种用于半导体光电器件微区带宽测试系统及方法在传统的带宽测试方法上首次提出了器件扫描的方式来测量器件微区的带宽，通过此方法不仅可以减小传统方法因光照射器件微区不同而导致的带宽测量误差，还可以表征器件微区最佳工作点。本发明使用方便，适用范围广，易于维护，具有良好的应用前景。