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公开(公告)号:CN118057552A
公开(公告)日:2024-05-21
申请号:CN202211462618.0
申请日:2022-11-21
Applicant: 国核电站运行服务技术有限公司
IPC: G21C17/104 , G06F30/20 , G06F111/10
Abstract: 本发明涉及一种含钽铌探测片中杂质射线荧光效应的消除方法,包括以下步骤:S1、加工相应规格尺寸的含钽杂质的铌探测片,作为目标铌探测片;S2、制定辐照条件,将目标铌探测片完成辐照;S3、测量目标铌探测片的93mNb比活度SANbi和182Ta比活度,计算各个余射线的发射率η;S4、建立理论计算模型,计算目标铌探测片中的182Ta衰变时发射的各种射线的荧光效应激发几率ω;S5、计算目标铌探测片中182Ta的总荧光效应;S6、计算消除荧光效应后目标铌探测片的93mNb的比活度。