公开(公告)号：CN114660172A

公开(公告)日：2022-06-24

申请号：CN202111355029.8

申请日：2021-11-16

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司 ,  北京工业大学

Inventor： 高东林 ,  张伦兆 ,  王慧园 ,  解东 ,  宋国荣 ,  吕炎

IPC: G01N29/04 ,  G01N29/06

Abstract: 本发明公开了一种针对复杂曲面工件缺陷的透射式超声波成像方法，属于无损检测领域。首先获取复杂曲面工件外形尺寸，对其进行检测路径规划，保证扫查过程中，探头与工件垂直；然后在工件进行超声检测，并接收超声脉冲透射回波信号，储存超声波激励时的工件扫查点位的坐标信息；将若干扫查点进行曲面拟合，构建成像曲面，将包含超声数据的透射波信号与曲面对应成像，得到三维C扫图像。本发明优化了复杂曲面缺陷的成像效果，避免了缺陷形状的扭曲与错位现象，将缺陷的坐标信息与超声扫查数据建立映射关系进行成像。

公开(公告)号：CN116242857A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202310082654.2

申请日：2023-02-08

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司 ,  国合通用测试评价认证股份公司

Inventor： 高东林 ,  肖婷 ,  白万通 ,  张伦兆 ,  董海江 ,  聂新宇 ,  袁博

IPC: G01N23/046 ,  G01N23/18

Abstract: 本发明公开了属于无损检测技术领域，特别涉及一种微焦点工业CT检测用夹杂物参考试块及其检测方法。所述夹杂物参考试块包括试块基体和夹杂物；试块基体能够满足夹杂物承载条件，与夹杂物的材料存在明显的穿透能力差异；能够实现夹杂物的分散与固定；能够实现夹杂物的检出以及尺寸检测；夹杂物的材料为球形粉末状材料，能够通过显微镜测量得到夹杂物的实际尺寸。在微焦点工业CT检测过程中，使用该夹杂物参考试块，能够找到检测分辨力与检测尺寸间的关系，实现某一分辨力下检测对象中不同尺寸缺陷检出概率、检测精度的有效性评估，从而实现微米级夹杂物缺陷尺寸的正确测量及输出。

公开(公告)号：CN114295728B

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202111356570.0

申请日：2021-11-16

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司 ,  北京工业大学

Inventor： 李杨 ,  屈娟 ,  张伦兆 ,  解东 ,  宋国荣 ,  吕炎

IPC: G01N29/06 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明公开了一种针对复杂曲面工件内部缺陷超声波三维层析成像方法，属于无损检测领域。首先获取复杂曲面工件外形尺寸，对其进行检测路径规划，保证扫查过程中，探头方向与扫查点的法向量方向一致；然后在工件表面进行超声检测，并接收超声脉冲回波反射信号；按照扫查点的法向量方向进行偏移，得到新的离散点，利用新的离散点构建成像曲面，同时截取对应位置的A扫描波形，将二者建立映射关系，得到最终的三维C扫层析图像。本发明优化了复杂曲面内部缺陷的成像效果，将探头扫查时的三维坐标点信息与超声回波数据建立映射关系，避免了缺陷形状的扭曲与错位现象，实现了缺陷位置的准确表征。

公开(公告)号：CN114295728A

公开(公告)日：2022-04-08

申请号：CN202111356570.0

申请日：2021-11-16

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司 ,  北京工业大学

Inventor： 李杨 ,  屈娟 ,  张伦兆 ,  解东 ,  宋国荣 ,  吕炎

IPC: G01N29/06 ,  G01N29/44

Abstract: 本发明公开了一种针对复杂曲面工件内部缺陷超声波三维层析成像方法，属于无损检测领域。首先获取复杂曲面工件外形尺寸，对其进行检测路径规划，保证扫查过程中，探头方向与扫查点的法向量方向一致；然后在工件表面进行超声检测，并接收超声脉冲回波反射信号；按照扫查点的法向量方向进行偏移，得到新的离散点，利用新的离散点构建成像曲面，同时截取对应位置的A扫描波形，将二者建立映射关系，得到最终的三维C扫层析图像。本发明优化了复杂曲面内部缺陷的成像效果，将探头扫查时的三维坐标点信息与超声回波数据建立映射关系，避免了缺陷形状的扭曲与错位现象，实现了缺陷位置的准确表征。

公开(公告)号：CN218566390U

公开(公告)日：2023-03-03

申请号：CN202222397685.0

申请日：2022-09-09

Applicant: 国标(北京)检验认证有限公司

Inventor： 王书明 ,  邬小萍 ,  刘瑞鑫 ,  王梦圆 ,  郭荣贵 ,  张伦兆 ,  傅忠臻 ,  吴月茜

IPC: G01B5/18

Abstract: 本实用新型公开了属于线性尺寸的计量领域的一种深度测量装置；其中升降杆台座水平放置在台面上，升降杆垂直固定于升降杆台座上，悬臂梁通过定高滑块安装于升降杆上，且与升降杆垂直，Z向微调托架固定于悬臂梁上，自锁滑动部设置于Z向滑槽中，且通过Z向微调手轮调整高低；自锁滑动部的外端通过螺钉固接有滑块滑动轨道，滑块滑动轨道的下端固定有止块，恒压滑块中央开有可以使得深度千分尺穿过的圆形通孔；深度千分尺下端安装有配套的千分尺基座；自然状态下，恒压滑块滑落至滑块滑动轨道的底部并与止块接触连接。本实用新型通过控制或固定压边力而有效地提高测量的精度，从而消除了千分尺的外圆基座与工件的压边力的大小引起的误差。