一种微焦点工业CT检测用夹杂物参考试块及其检测方法

    公开(公告)号:CN116242857A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310082654.2

    申请日:2023-02-08

    Abstract: 本发明公开了属于无损检测技术领域,特别涉及一种微焦点工业CT检测用夹杂物参考试块及其检测方法。所述夹杂物参考试块包括试块基体和夹杂物;试块基体能够满足夹杂物承载条件,与夹杂物的材料存在明显的穿透能力差异;能够实现夹杂物的分散与固定;能够实现夹杂物的检出以及尺寸检测;夹杂物的材料为球形粉末状材料,能够通过显微镜测量得到夹杂物的实际尺寸。在微焦点工业CT检测过程中,使用该夹杂物参考试块,能够找到检测分辨力与检测尺寸间的关系,实现某一分辨力下检测对象中不同尺寸缺陷检出概率、检测精度的有效性评估,从而实现微米级夹杂物缺陷尺寸的正确测量及输出。

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