一种管状弧度表面涂层干膜厚度测量方法

    公开(公告)号:CN118089560A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410163686.X

    申请日:2024-02-05

    Abstract: 本发明提出了一种管状弧度表面涂层干膜厚度测量方法,属于涂层干膜测量技术领域。解决了常规光学法效率低、不适用于薄涂层等缺点,也避免了磁性法不适用于小口径管外壁的薄涂层和吸热管表面涂层的问题的问题。它包括步骤1:进行待测涂层试样的制备;步骤2:将待测样品通过导向装置放置在三维显微镜的载物台上;步骤3:使用三维显微镜拍摄涂层表面划痕的三维形貌;步骤4:通过三维显微镜的三维尺寸测量功能测量干膜厚度,步骤1中制备平板试样和管状试样,步骤2中直接将平板试样放置在三维显微镜的载物台上进行干膜厚度测量,步骤2中通过平行定位块与三维显微镜的载物台边缘对齐。它主要用于涂层干膜厚度测量。

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