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公开(公告)号：CN107064772A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710134801.0
申请日：2017-03-07
Applicant: 哈尔滨工业大学(威海)
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2896
Abstract: 本发明提供了一种基于IP核资源复用的多核SOC测试封装结构及测试方法，其解决了多供电电压下重复测试负担大、测试时间长和测试费用高的技术问题。包括至少一个IP核，相同电压域内、分享相同测试资源的IP核划分至同一个IP核组，并以IP核组为单位通过测试总线连接在测试存储机制上，每个IP核都采用IPCRM测试封装结构；还设有封装扫描链的反馈通路、多路选择器、2路选择器、基本响应通路、测试存储通路和互连测试通路，且基本响应通路、测试存储通路和互连测试通路都设有旁路寄存器组。本发明广泛应用于多核系统芯片SOC测试技术领域。
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