公开(公告)号：CN118090517B

公开(公告)日：2024-07-30

申请号：CN202410471348.2

申请日：2024-04-19

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 朱悉铭 ,  郑博文 ,  习薇 ,  高轶文 ,  赵阳 ,  于达仁

IPC: G01N9/36 ,  G01N9/24 ,  G01N21/73 ,  G01R31/00

Abstract: 霍尔推力器通道壁面侵蚀产物的光学监测方法，涉及等离子体光谱测试技术领域。解决了如何在传统发射光谱法的基础上发展新的监测方法，实现光谱仪的长时间有效工作的问题。方法包括：根据发射光谱法采集工质原子谱线信号；采集图像形式的痕量侵蚀产物信号；利用碰撞辐射模式和先进介标测定法处理侵蚀产物光谱信号，获得不同位置的侵蚀产物密度信息，计算不同位置的侵蚀产物密度；根据不同位置的侵蚀产物密度，计算不同位置处的侵蚀速率；根据不同位置处的侵蚀速率对霍尔推力器寿命进行评估，获得监测结果。应用于光学监测领域。

公开(公告)号：CN118090517A

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202410471348.2

申请日：2024-04-19

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 朱悉铭 ,  郑博文 ,  习薇 ,  高轶文 ,  赵阳 ,  于达仁

IPC: G01N9/36 ,  G01N9/24 ,  G01N21/73 ,  G01R31/00

Abstract: 霍尔推力器通道壁面侵蚀产物的光学监测方法，涉及等离子体光谱测试技术领域。解决了如何在传统发射光谱法的基础上发展新的监测方法，实现光谱仪的长时间有效工作的问题。方法包括：根据发射光谱法采集工质原子谱线信号；采集图像形式的痕量侵蚀产物信号；利用碰撞辐射模式和先进介标测定法处理侵蚀产物光谱信号，获得不同位置的侵蚀产物密度信息，计算不同位置的侵蚀产物密度；根据不同位置的侵蚀产物密度，计算不同位置处的侵蚀速率；根据不同位置处的侵蚀速率对霍尔推力器寿命进行评估，获得监测结果。应用于光学监测领域。