公开(公告)号：CN102323541A

公开(公告)日：2012-01-18

申请号：CN201110136727.9

申请日：2011-05-25

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  彭喜元 ,  乔立岩 ,  陶丽楠 ,  向刚 ,  王帅

IPC: G01R31/3185

Abstract: 基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，涉及SOC的测试方法，解决了现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率有待提高的问题，它包括步骤一、把测试数据进行压缩；步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三、在测试时通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四、用测试数据对SOC进行测试；步骤一的压缩过程包括：步骤一一、根据目标子向量的位数将测试集TD进行划分；步骤一二、选择子向量集中重复率最高的子向量作为参考向量；步骤一三、对于每一个测试子向量进行编码；步骤一四、整合成压缩后的的测试向量。用于基于可复用IP核设计的SOC的测试。

公开(公告)号：CN102353894B

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201110248480.X

申请日：2011-08-26

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  乔立岩 ,  彭宇 ,  陶丽楠 ,  向刚

IPC: G01R31/3185

Abstract: 基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，涉及SOC的测试方法，解决了现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率较低的问题，它包括步骤一：把电路对应的测试数据进行压缩；步骤二：将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三：通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四：用测试数据对IP核进行测试。本发明方法的压缩效率高，高于同类的20％以上，没有增加额外的硬件冗余。用于基于可复用IP核设计的SOC的测试。

公开(公告)号：CN102353894A

公开(公告)日：2012-02-15

申请号：CN201110248480.X

申请日：2011-08-26

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  乔立岩 ,  彭宇 ,  陶丽楠 ,  向刚

IPC: G01R31/3185

Abstract: 基于参考向量和位掩码的SOC的测试方法，涉及SOC的测试方法，解决了现有测试方法在对IP核进行检测时，存在压缩率较低的问题，它包括步骤一：把电路对应的测试数据进行压缩；步骤二：将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三：通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四：用测试数据对IP核进行测试。本发明方法的压缩效率高，高于同类的20％以上，没有增加额外的硬件冗余。用于基于可复用IP核设计的SOC的测试。

公开(公告)号：CN102323540A

公开(公告)日：2012-01-18

申请号：CN201110136725.X

申请日：2011-05-25

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 俞洋 ,  乔立岩 ,  向刚 ,  陶丽楠 ,  王帅

IPC: G01R31/3185

Abstract: 一种基于编码的SOC的测试方法，涉及SOC的测试方法，解决了编码方法在对无关位进行赋值时未考虑到最优化方法，从而损失了潜在的压缩效率的问题，它包括如下步骤：步骤一、把测试数据进行压缩；步骤二、将压缩后的数据传输并存储在ATE上；步骤三、通过芯片上的解压结构对压缩数据解压缩，还原成测试数据；步骤四、用测试数据对SOC进行测试；步骤一的压缩过程如下：步骤一一、将测试向量排列成逐位移入的数据流；步骤一二、采用动态规划方法对测试数据中的无关位赋值；步骤一三、求非负整数序列A，使得总代价函数Y(A)最小；步骤一四、对赋值完后的测试向量进行划分；步骤一五、对测试数据进行压缩。用于大规模集成电路测试。