侧向流快滤池
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103432785B

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201310390682.7

    申请日:2013-08-30

    Abstract: 侧向流快滤池,它涉及一种水处理设备,以解决现有的向下流正粒度滤池存在截污能力差、过滤周期短和水头损失大的问题,它包括进水管、配水池体、出水管和N级过滤单元,N级过滤单元由下至上依次布置在配水池体内,配水池体的上部安装有进水管,每级过滤单元包括过滤料层和带有滤头的两个滤板,两个滤板之间铺设有过滤料层,N级过滤料层的滤料的粒径由下至上逐渐减小,N级滤板的滤头的孔径由下至上逐渐减小,每相邻两级过滤单元的同一侧板面处设置有导流槽,N-1级导流槽由下至上交错布置,且第一级过滤料层位于第一级导流槽与进水管之间,第N级过滤单元的出口处设置有出水管,每一级过滤料层的高度与宽度之比为1.5:1~8:1。本发明用于水处理。

    一种水处理膜池污染评价及控制的方法

    公开(公告)号:CN106512745B

    公开(公告)日:2019-10-22

    申请号:CN201610907405.2

    申请日:2016-10-17

    Abstract: 一种水处理膜池污染评价及控制的方法,它涉及一种膜池污染的评价及控制的方法。本发明为了解决现有的膜污染导致膜通量下降、膜组件更换和膜清洗的频繁,严重影响了膜技术的经济性和实用性的问题。本发明在膜池底部进水管上、膜池出水管处和清水池进水管口处各设置一台压力变送器或雷达液位计并与PLC控制系统相连,通过PLC系统控制检测膜池和清水池的实际压力值P或水位H,控制膜池系统的进水启动、过滤、反冲洗和膜池排空过程;检测实际压力P或水位H,进行局部水头损失、沿程水头损失和过膜损失TMP的水力计算,得到表征膜污染的阻力系数C/A0.5;以周期性的物理清洗和化学清洗来控制膜池过滤中膜污染情况。本发明用于水处理膜池污染的评价及控制。

    侧向流快滤池
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103432785A

    公开(公告)日:2013-12-11

    申请号:CN201310390682.7

    申请日:2013-08-30

    Abstract: 侧向流快滤池,它涉及一种水处理设备,以解决现有的向下流正粒度滤池存在截污能力差、过滤周期短和水头损失大的问题,它包括进水管、配水池体、出水管和N级过滤单元,N级过滤单元由下至上依次布置在配水池体内,配水池体的上部安装有进水管,每级过滤单元包括过滤料层和带有滤头的两个滤板,两个滤板之间铺设有过滤料层,N级过滤料层的滤料的粒径由下至上逐渐减小,N级滤板的滤头的孔径由下至上逐渐减小,每相邻两级过滤单元的同一侧板面处设置有导流槽,N-1级导流槽由下至上交错布置,且第一级过滤料层位于第一级导流槽与进水管之间,第N级过滤单元的出口处设置有出水管,每一级过滤料层的高度与宽度之比为1.5:1~8:1。本发明用于水处理。

    一种水处理膜池污染评价及控制的方法

    公开(公告)号:CN106512745A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201610907405.2

    申请日:2016-10-17

    Abstract: 一种水处理膜池污染评价及控制的方法,它涉及一种膜池污染的评价及控制的方法。本发明为了解决现有的膜污染导致膜通量下降、膜组件更换和膜清洗的频繁,严重影响了膜技术的经济性和实用性的问题。本发明在膜池底部进水管上、膜池出水管处和清水池进水管口处各设置一台压力变送器或雷达液位计并与PLC控制系统相连,通过PLC系统控制检测膜池和清水池的实际压力值P或水位H,控制膜池系统的进水启动、过滤、反冲洗和膜池排空过程;检测实际压力P或水位H,进行局部水头损失、沿程水头损失和过膜损失TMP的水力计算,得到表征膜污染的阻力系数C/A0.5;以周期性的物理清洗和化学清洗来控制膜池过滤中膜污染情况。本发明用于水处理膜池污染的评价及控制。

Patent Agency Ranking