公开(公告)号：CN102262080B

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201110102562.3

申请日：2011-04-22

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 秦峰 ,  程建敏 ,  郑仰东 ,  张治国

IPC: G01N21/64

Abstract: 基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法，涉及一种测量固体中稀土离子辐射性质的方法，它解决了现有的测量稀土离子的辐射性质的方法复杂、以及由于激发稀土离子的效率低导致测量精度低的问题。其方法：激光器发出的连续激光入射先后经一号偏振棱镜、电光调制器、二号偏振棱镜、一号透镜后会聚至待测稀土样品，激发待测稀土样品产生荧光，荧光经二号透镜会聚至光谱仪，获得分光光束；采用光电探测器探测分光光束，获得探测结果，建立探测结果的衰减曲线；对所述探测结果的衰减曲线进行拟合，获得稀土离子辐射寿命。本发明适用于固体中稀土离子辐射性质的测量。

公开(公告)号：CN102262080A

公开(公告)日：2011-11-30

申请号：CN201110102562.3

申请日：2011-04-22

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 秦峰 ,  程建敏 ,  郑仰东 ,  张治国

IPC: G01N21/64

Abstract: 基于单色连续激光测量固体中稀土离子辐射性质的方法，涉及一种测量固体中稀土离子辐射性质的方法，它解决了现有的测量稀土离子的辐射性质的方法复杂、以及由于激发稀土离子的效率低导致测量精度低的问题。其方法：激光器发出的连续激光入射先后经一号偏振棱镜、电光调制器、二号偏振棱镜、一号透镜后会聚至待测稀土样品，激发待测稀土样品产生荧光，荧光经二号透镜会聚至光谱仪，获得分光光束；采用光电探测器探测分光光束，获得探测结果，建立探测结果的衰减曲线；对所述探测结果的衰减曲线进行拟合，获得稀土离子辐射寿命。本发明适用于固体中稀土离子辐射性质的测量。