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公开(公告)号:CN112373728A
公开(公告)日:2021-02-19
申请号:CN202011155196.3
申请日:2020-10-26
IPC: B64G1/40
Abstract: 本发明提出了一种用于空间引力波探测的组合式电推进装置及控制方法,属于航天电推进技术领域。解决了现有单一推力器在偏离最佳工作区间工作过程中,效率和比冲等性能参数下降的问题。推进装置及控制方法,推进装置包括推力机构和控制机构,所述推力机构控制机构互通讯连接,所述推力机构包括储供系统、压力调节模块、流量调节模块、气体工质电推力器、液体工质电推力器和中和器,所述储供系统与压力调节模块相连,所述气体工质电推力器和液体工质电推力器各连接一个流量调节模块,两个流量调节模块均与压力调节模块相连,所述气体工质电推力器和液体工质电推力器均与中和器相连。它主要用于空间引力波探测。
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公开(公告)号:CN110006776A
公开(公告)日:2019-07-12
申请号:CN201910298067.0
申请日:2019-04-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N5/04 , G01N23/2251 , G01N23/2273 , G01B11/30
Abstract: 一种针对霍尔电推进器通道材料抗溅射性能的评价方法,本发明涉及陶瓷材料抗溅射性能的评价方法。解决现有缺少对霍尔电推进器通道材料抗溅射性能的筛选与评价方法的问题。方法:一、将霍尔电推进器通道所用的陶瓷材料加工,得到试样;二、将试样置于靶台上,设定离子束流与试样法向夹角、离子源与试样的距离及靶台转速;三、抽真空,通入气体工质,调整气体工质;四、启动离子源,依次设定离子能量、阳极电压及加速电压,设定离子束流及电子束流,进行溅射试验,得到溅射后的试样;五、计算溅射速率v及溅射产额Y,分析溅射后的试样表面粗糙度、价键组成、元素含量及表面形貌。本发明用于针对霍尔电推进器通道材料抗溅射性能的评价。
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公开(公告)号:CN112373728B
公开(公告)日:2022-04-05
申请号:CN202011155196.3
申请日:2020-10-26
IPC: B64G1/40
Abstract: 本发明提出了一种用于空间引力波探测的组合式电推进装置及控制方法,属于航天电推进技术领域。解决了现有单一推力器在偏离最佳工作区间工作过程中,效率和比冲等性能参数下降的问题。推进装置及控制方法,推进装置包括推力机构和控制机构,所述推力机构控制机构互通讯连接,所述推力机构包括储供系统、压力调节模块、流量调节模块、气体工质电推力器、液体工质电推力器和中和器,所述储供系统与压力调节模块相连,所述气体工质电推力器和液体工质电推力器各连接一个流量调节模块,两个流量调节模块均与压力调节模块相连,所述气体工质电推力器和液体工质电推力器均与中和器相连。它主要用于空间引力波探测。
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公开(公告)号:CN110006776B
公开(公告)日:2021-08-24
申请号:CN201910298067.0
申请日:2019-04-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01N5/04 , G01N23/2251 , G01N23/2273 , G01B11/30
Abstract: 一种针对霍尔电推进器通道材料抗溅射性能的评价方法,本发明涉及陶瓷材料抗溅射性能的评价方法。解决现有缺少对霍尔电推进器通道材料抗溅射性能的筛选与评价方法的问题。方法:一、将霍尔电推进器通道所用的陶瓷材料加工,得到试样;二、将试样置于靶台上,设定离子束流与试样法向夹角、离子源与试样的距离及靶台转速;三、抽真空,通入气体工质,调整气体工质;四、启动离子源,依次设定离子能量、阳极电压及加速电压,设定离子束流及电子束流,进行溅射试验,得到溅射后的试样;五、计算溅射速率v及溅射产额Y,分析溅射后的试样表面粗糙度、价键组成、元素含量及表面形貌。本发明用于针对霍尔电推进器通道材料抗溅射性能的评价。
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