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公开(公告)号：CN101839895A
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200910311663.4
申请日：2009-12-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种基于超声TOFD的近表面缺陷识别方法，涉及超声波无损检测领域，本发明为解决现有超声TOFD检测技术存在对表面及近表面缺陷不敏感的问题，以及现有硬件技术需要附加检测设备，软件技术数据处理过程复杂、耗时长、存在对侧向波抑制不完全及损伤近表面缺陷信号的问题。其过程为：根据被检测体的厚度和探头的角度，选择探头间距，使发射探头激发的纵波主轴声束在被检测体中沿W形声路传播后被另一探头接收。利用选定的探头间距，对被检测体进行A扫描，根据获得的A扫描信号，对被检测体进行D扫描和B扫描，分别获得D扫描图像和B扫描图像，实现缺陷识别并获得缺陷的长度及埋藏深度信息，本发明广泛应用于超声波无损检测领域。
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