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发明公开
一种夹层结构激光超声导波成像检测及脱粘缺陷面积测量方法、电子设备及存储介质审中-公开

公开(公告)号：CN118914088A

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202410951003.7

申请日：2024-07-16

申请人： 哈尔滨工业大学

发明人： 迟大钊 , 徐智贤 , 刘宇恒 , 刘正君 , 徐薇 , 王梓明

IPC分类号： G01N21/17 , G06T7/00 , G06T7/62

摘要： 一种夹层结构激光超声导波成像检测及脱粘缺陷面积测量方法、电子设备及存储介质，属于无损检测技术领域。为解决现有技术中难以从复杂的超声导波信号中提取缺陷信息，进而无法得到可靠性较高的成像结果的问题；本发明设计基于激光超声检测方法，通过连续小波变换，确定缺陷对信号时频能量分布的影响；采用Mallat算法得到感兴趣区域的细节信号；计算栅格扫查获得的细节信号和参考信号的皮尔逊相关系数；将皮尔逊相关系数进行灰度映射得到待检测区域的完整图像；使用Otsu方法对所得检测图像进行二值化，并对二值化图像进行形态学处理，以此实现缺陷面积计算，从而实现夹层结构内部缺陷的非耦合定量评价。