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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102507987A
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN201110317302.8
申请日：2011-10-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01Q60/24
Abstract: 本发明公开了一种集成光纤探针型近场光镊与AFM对近场光阱力进行测量的方法。它是一种利用AFM测量通光前后作用力对探针-基底间距离的关系曲线，根据两种力-距离曲线的差别探测近场光阱力的方法。在AFM探针逼近与离开基底表面获取力-距离曲线的过程中，通过光纤探针型近场光镊外加一个近场光场后，AFM探针在把隐失场转换成传播场的过程中会受到光阱力的作用。通过比较通光前后的力-距离曲线，可以实现光纤探针型近场光镊中近场光阱力的标定。本发明克服了流体力学探测方法的难点，提供了一种测量激光近场光镊的光阱力分布的方法。
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公开(公告)号：CN101799482A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN201010102043.2
申请日：2010-01-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种近场光镊与AFM探针的纳操作装置，它由微操作用显微镜与光纤探针型近场光镊组合而成，经微操作用显微镜样品室与外部的接口将光纤探针型近场光镊引入样品室后，利用复合产生的耦合力效应对样品微粒进行纳米操作。本发明集成激光近场光镊与AFM系统各自的优点，使得各器件间的耦合和连接较为简单、系统易于复合化，增强了系统的可靠性，从而使系统既具有足够高的分辨率又能实现高效灵活的操作，可以有效地捕获纳米微粒以实现其性质研究，为纳米技术领域增加了一个精密度更高的操作工具。
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公开(公告)号：CN101788571B
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201010102044.7
申请日：2010-01-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种复合激光近场光镊与AFM探针进行纳米操作的方法。它是一种从AFM系统样品室与外部的接口将光纤探针型近场光镊引入样品室，利用复合后产生的耦合力效应进行样品微粒纳米操作的方法。将AFM探针置于光纤探针的近场区域后，AFM探针局域增强光场与光纤探针出射光场耦合后形成的三维稳定光阱能平衡外界干扰力，可实现纳米微粒稳定高效的捕获。
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公开(公告)号：CN102261954A
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN201110104356.6
申请日：2011-04-26
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J1/58
Abstract: 本发明公开了一种利用纳米微粒的排列形状对近场光强分布进行测量的方法。它是一种利用隐失场所产生的强梯度力来操作纳米微粒，根据操作后产生的排列图案探测近场光强分布的方法。将纳米微粒置于精细结构的近场区域后，迅速衰减的隐失场能提供捕获微粒所需的梯度力，以实现纳米微粒稳定高效的捕获操作。近场区域内形成的三维光阱能平衡外界干扰力，将纳米微粒稳定捕获并约束于光强极点附近，因此微粒最终排列形成的图案形状能反映出精细结构近场区域的光强分布。利用纳米微粒在近场区域的排列形状，可实现精细结构表面近场光强的精确探测。
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公开(公告)号：CN101788571A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010102044.7
申请日：2010-01-28
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 一种复合激光近场光镊与AFM探针进行纳米操作的方法。它是一种从AFM系统样品室与外部的接口将光纤探针型近场光镊引入样品室，利用复合后产生的耦合力效应进行样品微粒纳米操作的方法。将AFM探针置于光纤探针的近场区域后，AFM探针局域增强光场与光纤探针出射光场耦合后形成的三维稳定光阱能平衡外界干扰力，可实现纳米微粒稳定高效的捕获。
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