公开(公告)号：CN105203437B

公开(公告)日：2017-11-17

申请号：CN201510603970.5

申请日：2015-09-21

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 任亚涛 ,  齐宏 ,  史要涛 ,  于创利 ,  于翠萍 ,  阮立明 ,  谈和平

IPC: G01N15/02

Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。

公开(公告)号：CN105203437A

公开(公告)日：2015-12-30

申请号：CN201510603970.5

申请日：2015-09-21

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 任亚涛 ,  齐宏 ,  史要涛 ,  于创利 ,  于翠萍 ,  阮立明 ,  谈和平

IPC: G01N15/02

Abstract: 基于前向散射多角度测量的球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布的同时重构方法，属于球形颗粒的物性参数测量技术领域。本发明是为了解决现有常规的测量球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布方法中，不能同时获得二者的测量结果，并且测量结果不准确的问题。它在测量过程中使用两种不同波长的连续激光照射球形粒子系样本表面，借助探测器测量粒子系不同角度内的透射信号，最后通过逆问题求解技术间接得到粒子系的光学常数以及粒径分布情况；它通过建立球形颗粒系不同角度内透射信号测量的正问题和逆问题求解模型，在粒子系的其他参数已知的前提下，提出光学常数与颗粒系粒径分布的同时重建技术。本发明用于球形颗粒光学常数与粒径分布的同时重构。