基于Chirp调频激光辐照的半透明材料光热特性参数检测方法

    公开(公告)号:CN110160964B

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN201910441867.3

    申请日:2019-05-24

    Abstract: 本发明提供基于Chirp调频激光辐照的半透明材料光热特性参数检测方法,属于光热物性测量技术领域。本发明首先使用基于Chirp调制激光的热波雷达成像技术对半透明材料中内含物位置进行锁定,设定内含物的物性参数;然后求解正问题计算模型得到边界真实的温度与辐射强度;采用SQP算法反演锁定的内含物位置,初步确定该内含物光热特性参数;最后通过SQP算法重复对整个计算场的光热特性参数进行重建,直到目标函数值达到指定的计算精度或者迭代步数达到最大值,最终得到材料最终的光热特性参数。本发明解决了现有半透明材料光热特性参数检测技术准确率不高的问题。本发明可用于半透明材料光热特性参数的精确检测。

    基于Chirp调频激光辐照的半透明材料光热特性参数检测方法

    公开(公告)号:CN110160964A

    公开(公告)日:2019-08-23

    申请号:CN201910441867.3

    申请日:2019-05-24

    Abstract: 本发明提供基于Chirp调频激光辐照的半透明材料光热特性参数检测方法,属于光热物性测量技术领域。本发明首先使用基于Chirp调制激光的热波雷达成像技术对半透明材料中内含物位置进行锁定,设定内含物的物性参数;然后求解正问题计算模型得到边界真实的温度与辐射强度;采用SQP算法反演锁定的内含物位置,初步确定该内含物光热特性参数;最后通过SQP算法重复对整个计算场的光热特性参数进行重建,直到目标函数值达到指定的计算精度或者迭代步数达到最大值,最终得到材料最终的光热特性参数。本发明解决了现有半透明材料光热特性参数检测技术准确率不高的问题。本发明可用于半透明材料光热特性参数的精确检测。

    基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法

    公开(公告)号:CN108362733B

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201810143017.0

    申请日:2018-02-11

    Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法,涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置,然后将背景材料光学和热物性赋给内含物,作为内含物的光学和热物性初始值,通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数;基于重建半透明材料光热特性分布的LIT‑SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。

    基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法

    公开(公告)号:CN108362733A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201810143017.0

    申请日:2018-02-11

    Abstract: 基于锁相热波与光学层析相结合的半透明材料光热特性分布测量方法,涉及半透明材料光热物性测量技术领域。本发明为了解决目前无法准确的测量半透明材料光热特性分布的问题。本发明首先利用LIT技术识别材料中内含物位置,然后将背景材料光学和热物性赋给内含物,作为内含物的光学和热物性初始值,通过SQP算法反演初步确定的内含物的吸收系数、散射系数和导热系数;基于重建半透明材料光热特性分布的LIT-SQP算法最终确定半透明材料光热特性分布。本发明结合了锁相技术快速定位内含物位置的优点和SQP算法准确重建材料光热特性的优点。本发明适用于半透明材料光热特性分布的测量。

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