公开(公告)号：CN108169790B

公开(公告)日：2020-08-18

申请号：CN201711203254.3

申请日：2017-11-27

Applicant: 同济大学

Inventor： 穆宝忠 ,  李亚冉 ,  谢青 ,  陈志强 ,  忻秋琪 ,  王丽晓 ,  王新 ,  王占山

IPC: G01T7/00

Abstract: 本发明涉及一种掠入射X射线显微镜的强度标定方法，该方法包括以下步骤：安装系统中各实验部件并进行实验部件调整使系统达到最优分辨率；移动针孔光阑，测量各个视场位置的出射光谱；将X射线显微镜从光路中移出，在孔径光阑后方测量各个视场下系统的入射光谱；利用测得的出射光谱和入射光谱对能量分辨范围内的光子进行计数，计算各个视场的物镜反射率；利用物镜反射率计算系统响应效率；根据显微镜的系统响应效率、滤片的透过率以及相机的量子效率，计算得到内爆靶丸的源强。与现有技术相比，本发明具有考虑视场一致性、完善了对光学系统能谱响应效率的标定、本发明更适用于实验室进行等优点。

公开(公告)号：CN108169790A

公开(公告)日：2018-06-15

申请号：CN201711203254.3

申请日：2017-11-27

Applicant: 同济大学

Inventor： 穆宝忠 ,  李亚冉 ,  谢青 ,  陈志强 ,  忻秋琪 ,  王丽晓 ,  王新 ,  王占山

IPC: G01T7/00

Abstract: 本发明涉及一种掠入射X射线显微镜的强度标定方法，该方法包括以下步骤：安装系统中各实验部件并进行实验部件调整使系统达到最优分辨率；移动针孔光阑，测量各个视场位置的出射光谱；将X射线显微镜从光路中移出，在孔径光阑后方测量各个视场下系统的入射光谱；利用测得的出射光谱和入射光谱对能量分辨范围内的光子进行计数，计算各个视场的物镜反射率；利用物镜反射率计算系统响应效率；根据显微镜的系统响应效率、滤片的透过率以及相机的量子效率，计算得到内爆靶丸的源强。与现有技术相比，本发明具有考虑视场一致性、完善了对光学系统能谱响应效率的标定、本发明更适用于实验室进行等优点。