一种掠入射X射线显微镜的强度标定方法

    公开(公告)号:CN108169790A

    公开(公告)日:2018-06-15

    申请号:CN201711203254.3

    申请日:2017-11-27

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种掠入射X射线显微镜的强度标定方法,该方法包括以下步骤:安装系统中各实验部件并进行实验部件调整使系统达到最优分辨率;移动针孔光阑,测量各个视场位置的出射光谱;将X射线显微镜从光路中移出,在孔径光阑后方测量各个视场下系统的入射光谱;利用测得的出射光谱和入射光谱对能量分辨范围内的光子进行计数,计算各个视场的物镜反射率;利用物镜反射率计算系统响应效率;根据显微镜的系统响应效率、滤片的透过率以及相机的量子效率,计算得到内爆靶丸的源强。与现有技术相比,本发明具有考虑视场一致性、完善了对光学系统能谱响应效率的标定、本发明更适用于实验室进行等优点。

    一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法

    公开(公告)号:CN109702909A

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201910044268.8

    申请日:2019-01-17

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法,所述夹持工具包括套筒组件、外部金属夹持件和螺旋测微器,所述外部金属夹持件为一半框形结构,所述套筒组件夹持于外部金属夹持件的半框内,所述螺旋测微器与套筒组件连接,其中,所述套筒组件包括:金属套筒,用于容纳球面基座和晶体材料,金属套筒上连接有金属抽气嘴;金属底座和金属压块,设置于所述金属套筒两端,且接触所述球面基座;金属垫块,设置于金属压块和外部金属夹持件间,并与螺旋测微器连接。与现有技术相比,本发明具有简单可靠、成本低等优点,保证了最终光学元件的光学分辨率。

    一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法

    公开(公告)号:CN109702909B

    公开(公告)日:2020-11-27

    申请号:CN201910044268.8

    申请日:2019-01-17

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法,所述夹持工具包括套筒组件、外部金属夹持件和螺旋测微器,所述外部金属夹持件为一半框形结构,所述套筒组件夹持于外部金属夹持件的半框内,所述螺旋测微器与套筒组件连接,其中,所述套筒组件包括:金属套筒,用于容纳球面基座和晶体材料,金属套筒上连接有金属抽气嘴;金属底座和金属压块,设置于所述金属套筒两端,且接触所述球面基座;金属垫块,设置于金属压块和外部金属夹持件间,并与螺旋测微器连接。与现有技术相比,本发明具有简单可靠、成本低等优点,保证了最终光学元件的光学分辨率。

    一种掠入射X射线显微镜的强度标定方法

    公开(公告)号:CN108169790B

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN201711203254.3

    申请日:2017-11-27

    Applicant: 同济大学

    Abstract: 本发明涉及一种掠入射X射线显微镜的强度标定方法,该方法包括以下步骤:安装系统中各实验部件并进行实验部件调整使系统达到最优分辨率;移动针孔光阑,测量各个视场位置的出射光谱;将X射线显微镜从光路中移出,在孔径光阑后方测量各个视场下系统的入射光谱;利用测得的出射光谱和入射光谱对能量分辨范围内的光子进行计数,计算各个视场的物镜反射率;利用物镜反射率计算系统响应效率;根据显微镜的系统响应效率、滤片的透过率以及相机的量子效率,计算得到内爆靶丸的源强。与现有技术相比,本发明具有考虑视场一致性、完善了对光学系统能谱响应效率的标定、本发明更适用于实验室进行等优点。

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