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公开(公告)号：CN111426937A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010262832.6
申请日：2020-04-07
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。
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公开(公告)号：CN109490753A
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201811342777.0
申请日：2018-11-13
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2851
Abstract: 本发明涉及一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先对特定的电路利用自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个元素(测试模式)得到其可以检测到的故障集合，并根据故障集合产生测试模式和故障之间的矩阵；最后根据测试模式故障矩阵生成每个故障对应的模式覆盖集，作为输入，利用极小碰集求解方法得到一个极小测试模式集，并对该测试模式集的故障覆盖率进行验证：将该测试模式集重新读入工具，如果其覆盖率降低，则修改或舍弃该解；如果没有降低，那么就将这个极小测试模式集加入解空间。本发明降低了芯片开发过程中的测试成本，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN111426937B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202010262832.6
申请日：2020-04-07
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种基于无故障信息测试分数的故障诊断方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用自动测试模式生成工具Tetra MAX对电路生成测试向量集合和单故障集合；从单故障集合中随机选出多个单故障组成电路发生的多故障集合；然后利用HDL语言仿真软件Modelsim对电路进行仿真，生成测试向量集合下电路的输出响应，作为输入；为每个测试向量计算分数，根据测试向量分数计算单故障集合中的所有单故障的分数；根据故障分数的排序，分别按照设置的百分比和名次选择单故障加入不同的候选故障集合中，计算两个候选故障集合的准确性，选出最终候选故障集合输出。本发明提高了故障诊断的准确性，从而提高测试效率，降低测试成本，加快电子产品上市的时间。
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公开(公告)号：CN109490753B
公开(公告)日：2020-12-08
申请号：CN201811342777.0
申请日：2018-11-13
Applicant: 吉林大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先对特定的电路利用自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个元素(测试模式)得到其可以检测到的故障集合，并根据故障集合产生测试模式和故障之间的矩阵；最后根据测试模式故障矩阵生成每个故障对应的模式覆盖集，作为输入，利用极小碰集求解方法得到一个极小测试模式集，并对该测试模式集的故障覆盖率进行验证：将该测试模式集重新读入工具，如果其覆盖率降低，则修改或舍弃该解；如果没有降低，那么就将这个极小测试模式集加入解空间。本发明降低了芯片开发过程中的测试成本，提高测试效率。
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