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公开(公告)号：CN118760458A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411244381.8
申请日：2024-09-06
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
摘要： 本发明提供了一种存储器及其固件升级方法，存储器包括主存储区域、副存储区域、备份存储区域、用户数据区域以及主控单元，主控单元用以获取固件升级包，并将其载入至副存储区域中，将副存储区域中的固件升级包载入至主存储区域与备份存储区域中，分别从主存储区域、副存储区域以及备份存储区域中加载固件升级包，重启存储器，并校验加载的固件升级包的完整性，确定某一存储区域中的固件升级包不完整时，从用户数据区域中选取性能最优的数据区域，以替换该存储区域，并将其他存储区域中的固件升级包载入至该数据区域中。通过本发明提供的一种存储器及其固件升级方法，在即使出现坏块的情况下，也能够对固件进行升级。
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公开(公告)号：CN117409833B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202311715546.0
申请日：2023-12-14
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
IPC分类号： G11C11/4074 , G11C11/4078
摘要： 本发明提供了一种嵌入式存储器及电子设备，其中嵌入式存储器包括：存储芯片，存储芯片接收供电电压，并将供电电压转换为存储芯片的内部电压；接触管脚，设置在存储芯片的封装体上，且接触管脚电性连接于存储芯片的功能电路，形成存储芯片的功能端口，其中功能端口包括供电端口和放电端口；以及多个放电单元，设置在存储芯片的封装体内，且放电单元的电流输入端电性连接于供电端口，放电单元的电流输出端电性连接于放电端口；其中，当供电电压高于预设电压时，供电端口和放电端口之间导通，对存储芯片的供电电源进行放电，直到供电电压小于等于预设电压。本发明提供了一种嵌入式存储器及电子设备，能够提升存储器的工作性能。
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公开(公告)号：CN117472294B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311823371.5
申请日：2023-12-28
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
IPC分类号： G06F3/06
摘要： 本发明提供了一种存储器及其数据处理方法，存储器包括：微控制单元，电性连接于电子产品，用以启动存储器，并获取存储颗粒的相应信息；以及多个存储颗粒，电性连接于所述微控制单元，所述存储颗粒包括指令处理单元、逻辑处理单元、顺序读缓冲区、顺序写缓冲区、随机读缓冲区以及随机写缓冲区；其中，所述存储颗粒用以响应于所述电子产品的处理器的写测试指令，以向所述顺序写缓冲区、所述随机写缓冲区写入主机数据，响应于所述电子产品的处理器的读测试指令，以将所述主机数据读进所述顺序读缓冲区、所述随机写缓冲区。通过本发明提供的一种存储器及其数据处理方法，能够提升存储器读写数据的速度与稳定性。
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公开(公告)号：CN117435416B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311744268.1
申请日：2023-12-19
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明提供了一种存储器的测试系统及测试方法，包括：至少一个测试板，被配置为其上通信连接有待测存储器，以搭建对应的测试环境；以及处理器，通信连接于测试板，且被配置为根据待测存储器的类型，设定对应的数据写入比例，以对待测存储器进行写入测试；处理器还被配置为获取待测存储器的测试结果，上传至主机进行汇总，并重复向待测存储器写入数据，直至擦除次数达到预设次数为止。通过本发明提供的一种存储器的测试系统及测试方法，能够对不同类型的存储器同时进行寿命压力测试。
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公开(公告)号：CN117409851B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311722567.5
申请日：2023-12-15
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
摘要： 本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。测试系统包括：接口模块，用以与主机之间进行数据传输；多个芯片测试座，用以安装待测芯片；信号补偿模块，用以对待测芯片输入测试信号；信号采集模块，用以采集待测芯片对测试信号的响应信号，并将响应信号反馈给信号补偿模块；中央处理模块，用以调节信号补偿模块上测试信号的参数，接收信号补偿模块上采集到的响应信号，并将响应信号通过接口模块传递给主机，以生成待测芯片的测试结果；以及电源模块，用以对芯片测试座、信号补偿模块、信号采集模块和中央处理模块供电。本发明可同时监控、测量多个待测芯片的产品质量，提高测试质量和测试效率。
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公开(公告)号：CN117409851A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311722567.5
申请日：2023-12-15
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
摘要： 本发明涉及静态存储技术领域，特别涉及一种存储芯片的测试系统及测试方法。测试系统包括：接口模块，用以与主机之间进行数据传输；多个芯片测试座，用以安装待测芯片；信号补偿模块，用以对待测芯片输入测试信号；信号采集模块，用以采集待测芯片对测试信号的响应信号，并将响应信号反馈给信号补偿模块；中央处理模块，用以调节信号补偿模块上测试信号的参数，接收信号补偿模块上采集到的响应信号，并将响应信号通过接口模块传递给主机，以生成待测芯片的测试结果；以及电源模块，用以对芯片测试座、信号补偿模块、信号采集模块和中央处理模块供电。本发明可同时监控、测量多个待测芯片的产品质量，提高测试质量和测试效率。
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公开(公告)号：CN116820898A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202311110041.1
申请日：2023-08-31
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
IPC分类号： G06F11/30
摘要： 本申请公开了一种内嵌式多媒体卡eMMC的运行状态监控方法、系统、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括以下步骤：在SOC芯片与所述eMMC之间通过eMMC协议进行通信，并通过所述SOC芯片向所述eMMC发送第一指令信息获取所述eMMC状态信息；对所述eMMC状态信息进行检测，并在判断所述eMMC状态信息异常时，通过所述SOC芯片向所述eMMC发出进行警示调整的第二指令信息，以对所述eMMC进行调试。如此，通过SOC芯片能够及时获取eMMC的运行状态信息，提高了获取的eMMC状态信息的准确性，有助于及时根据eMMC状态信息对eMMC的运行状态进行调整。
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公开(公告)号：CN115576587B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202211442794.8
申请日：2022-11-18
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
摘要： 本发明提供一种存储装置的固件升级装置，其特征在于，包括：网络单元，用于获取待更新信息；微控制单元，与所述网络单元通信连接，用于暂存所述待更新信息；以及接口单元，与所述微控制单元通信连接，并与主机的通信接口通信连接；其中，所述微控制单元通过所述接口单元将所述待更新信息传输到所述存储装置内，以对所述存储装置的固件进行更新。通过本发明公开的一种存储装置的固件升级装置，能够在存储装置的固件存在问题的情况下，对存储装置的固件进行升级。
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公开(公告)号：CN115497522B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211439515.2
申请日：2022-11-17
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
IPC分类号： G11C5/14
摘要： 本发明提供一种存储装置及其数据保护方法，包括：至少一个闪存存储器；以及主控制器，与所述闪存存储器电性连接，所述主控制器包括：电压检测模块，用以获取所述主控制器的电源电压与所述闪存存储器的电源电压，其中，所述主控制器的电源电压表示为第一电源电压，所述闪存存储器的电源电压表示为第二电源电压；以及运算单元，用以将所述第一电源电压和/或所述第二电源电压与相应的预设电压范围进行比较，以使所述主控制器启用禁止模式。通过本发明公开的一种存储装置及其数据保护方法，能够在供电异常的情况下，对内嵌式存储装置内的数据进行保护。
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公开(公告)号：CN115691650A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211395798.5
申请日：2022-11-09
申请人： 合肥康芯威存储技术有限公司
摘要： 本发明提供一种eMMC芯片的输出驱动能力的测试装置和测试方法，属于eMMC芯片测试领域。装置包括：输出电流设置模块，用于将所述eMMC芯片的数据IO接口的输出电流置为额定电流；判断模块，用于在所述额定电流的基础上，判断所述数据IO接口的输出驱动能力是否达到标称值，并输出相应的判断信号；档位调节模块，用于当所述判断信号表示输出驱动能力未达到标称值时，控制所述eMMC芯片将输出驱动档位上调。采用本发明，可以在封装测试期间快速实现对eMMC芯片的输出驱动能力的测试和调整，提高整体的预期效果。
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