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公开(公告)号:CN116110985B
公开(公告)日:2023-08-08
申请号:CN202310387782.8
申请日:2023-04-12
Applicant: 合肥工业大学
IPC: H01L31/0232 , H01L31/032 , H01L31/101
Abstract: 本发明公开了集成非对称F‑P腔的InSe基日盲紫外光电探测器,是将InSe二维薄片转移至共振波长位于日盲紫外波段的金属/介质层非对称F‑P腔上方,利用腔共振,增强InSe在日盲紫外波段的吸收,从而提高InSe基光电探测器的响应度、日盲紫外/可见抑制比,实现日盲紫外光电探测。本发明利用窄禁带半导体材料实现日盲紫外光电探测,制备工艺简单,为高性能日盲紫外光电探测提供了一个新的思路。
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公开(公告)号:CN116110985A
公开(公告)日:2023-05-12
申请号:CN202310387782.8
申请日:2023-04-12
Applicant: 合肥工业大学
IPC: H01L31/0232 , H01L31/032 , H01L31/101
Abstract: 本发明公开了集成非对称F‑P腔的InSe基日盲紫外光电探测器,是将InSe二维薄片转移至共振波长位于日盲紫外波段的金属/介质层非对称F‑P腔上方,利用腔共振,增强InSe在日盲紫外波段的吸收,从而提高InSe基光电探测器的响应度、日盲紫外/可见抑制比,实现日盲紫外光电探测。本发明利用窄禁带半导体材料实现日盲紫外光电探测,制备工艺简单,为高性能日盲紫外光电探测提供了一个新的思路。
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