光学显微镜和显微术方法

    公开(公告)号:CN104956249B

    公开(公告)日:2017-12-01

    申请号:CN201480005722.4

    申请日:2014-01-23

    Inventor: W.巴思 R.内茨

    Abstract: 本发明涉及一种具有样本平面的光学显微镜,待研究的样本能够定位在所述样本平面上,所述光学显微镜具有用于发出照明光线的光源、用于将照明光线导入样本平面中的光学成像器件和探测器装置,所述探测器装置具有多个探测器元件来检测来自样本的样本光线。在此,相邻的探测器元件彼此之间的距离小于样本平面的点在探测器装置上产生的埃里斑。按照本发明的光学显微镜的特征在于,设有带至少一个第一和第二光学装置的扫描装置,所述扫描装置的光学装置能够同时沿共同的方向运动,以便产生彼此方向相反的照明扫描运动和探测扫描运动,第一和第二光学装置分别具有多个并排布置的光学元件,通过所述光学元件能够同时研究相互间隔的样本区域,第一和第二光学装置布置为,使得从样本平面朝向探测器装置的样本光线的光路以及从光源朝向样本平面的照明光线的光路均经过第一光学装置并且这两条光路中只有一条经过第二光学装置,并且为了实现与照明扫描运动的方向相反的探测扫描运动的方向,能够通过扫描装置使样本光线非倒立地并且以小于1的成像比例成像。

    光学显微镜和显微术方法

    公开(公告)号:CN104956249A

    公开(公告)日:2015-09-30

    申请号:CN201480005722.4

    申请日:2014-01-23

    Inventor: W.巴思 R.内茨

    Abstract: 本发明涉及一种具有样本平面的光学显微镜,待研究的样本能够定位在所述样本平面上,所述光学显微镜具有用于发出照明光线的光源、用于将照明光线导入样本平面中的光学成像器件和探测器装置,所述探测器装置具有多个探测器元件来检测来自样本的样本光线。在此,相邻的探测器元件彼此之间的距离小于样本平面的点在探测器装置上产生的埃里斑。按照本发明的光学显微镜的特征在于,设有带至少一个第一和第二光学装置的扫描装置,所述扫描装置的光学装置能够同时沿共同的方向运动,以便产生彼此方向相反的照明扫描运动和探测扫描运动,第一和第二光学装置分别具有多个并排布置的光学元件,通过所述光学元件能够同时研究相互间隔的样本区域,第一和第二光学装置布置为,使得从样本平面朝向探测器装置的样本光线的光路以及从光源朝向样本平面的照明光线的光路均经过第一光学装置并且这两条光路中只有一条经过第二光学装置,并且为了实现与照明扫描运动的方向相反的探测扫描运动的方向,能够通过扫描装置使样本光线非倒立地并且以小于1的成像比例成像。

    用于确定辐射在样品平面中的合成功率的方法和光学布置

    公开(公告)号:CN112098375A

    公开(公告)日:2020-12-18

    申请号:CN202010556726.9

    申请日:2020-06-17

    Inventor: W.巴思

    Abstract: 本发明涉及一种确定在光学布置的样品平面(8)中的辐射的合成功率的方法。步骤A中,捕获在光学布置的束路径中的光学元件的当前配置。步骤B中,提供辐射且将辐射沿着所述束路径引导到样品平面(8)中。步骤C中,捕获在样品平面(8)中的辐射的功率的至少一个测量值作为合成功率;以及步骤D中,存储与所相应的当前配置相关的测量值。对于至少一个其他当前配置,重复步骤A至D。此外,本发明还涉及一种确定在样品平面(8)中的辐射的合成功率的光学布置。

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