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公开(公告)号：CN103305402A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310189106.6
申请日：2008-03-28
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 迈克尔·博伊斯-亚契诺
CPC classification number: C12Q1/6874 , B01L3/50273 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/0668 , B01L2200/12 , B01L2300/041 , B01L2300/0627 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0861 , B01L2300/0864 , B01L2300/0887 , B01L2300/089 , B01L2300/0896 , B01L2300/161 , B01L2400/0406 , B01L2400/0415 , B01L2400/0487 , B01L2400/086 , C12Q1/6876 , C12Q2563/107 , C12Q2600/172 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N33/582
Abstract: 本发明涉及使用纳米通道阵列的大分子分析方法，具体地，本发明公开了沿着大的基因组DNA分子分析特征、例如大分子的物理大小或生物标志物的方法，以及以大批量平行的方式实施这种高通量分析的装置。还公开了制造这样的装置的方法。附图中显示的样品实施方案图示了对流经纳米通道装置的大分子的检测，其中大分子通过纳米通道是使用激发源激发目标部件产生荧光，然后用光子检测装置感应荧光，然后将该荧光信号与大分子的长度相关联来记录的。
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公开(公告)号：CN103203256A
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN201310054745.1
申请日：2007-07-19
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 迈克尔·博伊斯-亚契诺
CPC classification number: B82Y30/00 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/12 , B01L2300/0645 , B01L2300/0816 , B01L2300/0822 , B01L2300/0896 , B01L2400/0415 , B01L2400/0487 , C12Q1/6869 , G01N27/447 , G01N33/48721 , G01N2035/1039 , Y10T436/143333 , Y10T436/2575 , C12Q2565/631
Abstract: 本发明公开了纳米口装置阵列：它们的制备以及在大分子分析中的应用。具体地，本发明公开了缩窄的纳米通道装置，适合用于分析大分子结构，包括DNA测序。还公开了制造这样的装置以及使用这样的装置分析大分子的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103203256B
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201310054745.1
申请日：2007-07-19
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 迈克尔·博伊斯-亚契诺
CPC classification number: B82Y30/00 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/12 , B01L2300/0645 , B01L2300/0816 , B01L2300/0822 , B01L2300/0896 , B01L2400/0415 , B01L2400/0487 , C12Q1/6869 , G01N27/447 , G01N33/48721 , G01N2035/1039 , Y10T436/143333 , Y10T436/2575 , C12Q2565/631
Abstract: 本发明公开了纳米口装置阵列：它们的制备以及在大分子分析中的应用。具体地，本发明公开了缩窄的纳米通道装置，适合用于分析大分子结构，包括DNA测序。还公开了制造这样的装置以及使用这样的装置分析大分子的方法。
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公开(公告)号：CN102369059A
公开(公告)日：2012-03-07
申请号：CN200980130482.X
申请日：2009-06-05
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 马克·昆克尔 , 阿列克谢·Y·沙罗诺夫 , 迈克尔·科切尔斯皮尔格
IPC: B01L3/00
CPC classification number: B81C1/00119 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/0689 , B01L2200/10 , B01L2300/0816 , B01L2300/0851 , B01L2300/0858 , B01L2300/0864 , B01L2300/0887 , B01L2300/168 , B01L2400/0415 , B01L2400/043 , B01L2400/0442 , B01L2400/0487 , B01L2400/086 , B81B2201/058 , B81C2201/019 , G01N2021/0346 , G01N2021/6439 , Y10T29/4981
Abstract: 本发明提供了具有大尺度和纳米尺度尺寸的部件的集成分析装置，以及具有降低的背景信号并减少了置于装置内的荧光团淬灭的装置。还提供了制造这些装置和使用这些装置的相关方法。
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公开(公告)号：CN102369059B
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN200980130482.X
申请日：2009-06-05
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 马克·昆克尔 , 阿列克谢·Y·沙罗诺夫 , 迈克尔·科切尔斯皮尔格
IPC: B01L3/00
CPC classification number: B81C1/00119 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/0689 , B01L2200/10 , B01L2300/0816 , B01L2300/0851 , B01L2300/0858 , B01L2300/0864 , B01L2300/0887 , B01L2300/168 , B01L2400/0415 , B01L2400/043 , B01L2400/0442 , B01L2400/0487 , B01L2400/086 , B81B2201/058 , B81C2201/019 , G01N2021/0346 , G01N2021/6439 , Y10T29/4981
Abstract: 本发明提供了具有大尺度和纳米尺度尺寸的部件的集成分析装置，以及具有降低的背景信号并减少了置于装置内的荧光团淬灭的装置。还提供了制造这些装置和使用这些装置的相关方法。
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公开(公告)号：CN101765462B
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN200880017550.7
申请日：2008-03-28
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 迈克尔·博伊斯-亚契诺
CPC classification number: C12Q1/6874 , B01L3/50273 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/0668 , B01L2200/12 , B01L2300/041 , B01L2300/0627 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0861 , B01L2300/0864 , B01L2300/0887 , B01L2300/089 , B01L2300/0896 , B01L2300/161 , B01L2400/0406 , B01L2400/0415 , B01L2400/0487 , B01L2400/086 , C12Q1/6876 , C12Q2563/107 , C12Q2600/172 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N33/582
Abstract: 本发明公开了沿着大的基因组DNA分子分析特征、例如大分子的物理大小或生物标志物的方法，以及以大批量平行的方式实施这种高通量分析的装置。还公开了制造这样的装置的方法。附图中显示的样品实施方案图示了对流经纳米通道装置的大分子的检测，其中大分子通过纳米通道是使用激发源激发目标部件产生荧光，然后用光子检测装置感应荧光，然后将该荧光信号与大分子的长度相关联来记录的。
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公开(公告)号：CN104359874A
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN201410462892.7
申请日：2009-06-05
Applicant: 博纳基因技术有限公司
Inventor： 曹涵 , 迈克尔·D·奥斯汀 , 帕里克希特·A·德什潘德 , 马克·昆克尔 , 阿列克谢·Y·沙罗诺夫 , 迈克尔·科切尔斯皮尔格
IPC: G01N21/64
CPC classification number: B81C1/00119 , B01L3/502761 , B01L2200/0663 , B01L2200/0689 , B01L2200/10 , B01L2300/0816 , B01L2300/0851 , B01L2300/0858 , B01L2300/0864 , B01L2300/0887 , B01L2300/168 , B01L2400/0415 , B01L2400/043 , B01L2400/0442 , B01L2400/0487 , B01L2400/086 , B81B2201/058 , B81C2201/019 , G01N2021/0346 , G01N2021/6439 , Y10T29/4981
Abstract: 本发明涉及集成分析装置及相关制造方法和分析技术。本发明提供了具有大尺度和纳米尺度尺寸的部件的集成分析装置，以及具有降低的背景信号并减少了置于装置内的荧光团淬灭的装置。还提供了制造这些装置和使用这些装置的相关方法。
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