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公开(公告)号:CN119835964A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202411983946.4
申请日:2024-12-31
Applicant: 南京邮电大学 , 南京邮电大学南通研究院有限公司
Abstract: 本发明属于功率半导体技术领域,公开了一种衬底电压调控GaN HEMT功率器件,包括沿器件垂直方向自下而上依次层叠设置的P衬底、GaN缓冲层、GaN沟道层、AlGaN势垒层、钝化层和浮空场板结构;沿器件横向方向,在AlGaN势垒层表面依次为相互不接触的源电极、栅极结构和漏电极;所述浮空场板结构包括若干个互不接触的浮空场板,所述P衬底与浮空场板结构中任意一个场板通过金属相连接,使其电位相同,浮空场板电压可调控衬底电压,实现高耐压和抑制动态电阻退化。本发明的有益效果为,在不增加导通电阻的情况下,具有高的耐压且抑制动态电阻崩塌,不增加额外工艺步骤,且不会额外增加芯片面积,节约了成本。