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公开(公告)号：CN116743364B
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202310697599.8
申请日：2023-06-13
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明提出了一种基于双光子干涉定量刻画测量无关类量子密钥分发系统中实际光源缺陷的方法。本发明将光分束为上下两个支路，其中上支路通过偏振调制单元和强度调制单元进行编码和诱骗态调制，下支路作为未经调制的参考光，两支路的光在监测模块的分束器上进行干涉，通过干涉可见度实现光源缺陷的监测与刻画。在理论方法上，本发明建立了干涉可见度和保真度之间的关系，通过干涉可见度表征了发送端存在的实际漏洞。与现有技术相比，本发明可以刻画高维的安全性漏洞，适配诱骗态的应用场景，有效提高方案安全性，在安全性上接近设备无关量子密钥分发协议，且在光源存在较大误差情况下依旧可以获得较远的传输距离。
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公开(公告)号：CN116743364A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310697599.8
申请日：2023-06-13
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明提出了一种基于双光子干涉定量刻画测量无关类量子密钥分发系统中实际光源缺陷的方法。本发明将光分束为上下两个支路，其中上支路通过偏振调制单元和强度调制单元进行编码和诱骗态调制，下支路作为未经调制的参考光，两支路的光在监测模块的分束器上进行干涉，通过干涉可见度实现光源缺陷的监测与刻画。在理论方法上，本发明建立了干涉可见度和保真度之间的关系，通过干涉可见度表征了发送端存在的实际漏洞。与现有技术相比，本发明可以刻画高维的安全性漏洞，适配诱骗态的应用场景，有效提高方案安全性，在安全性上接近设备无关量子密钥分发协议，且在光源存在较大误差情况下依旧可以获得较远的传输距离。
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