一种基于参数优化的电阻抗成像方法

    公开(公告)号:CN116433868A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202310364912.6

    申请日:2023-04-07

    Abstract: 本发明公开了一种基于参数优化的电阻抗成像方法,该方法包括首先,利用有限元法将区域剖分成离散单元,将电导率离散化处理,进而计算被测区域中不同位置的电导率变化敏感矩阵;然后,将Tikhonov正则化算法和TV正则化算法的两种正则化罚函数进行组合应用,设置权重系数,并采用粒子群算法进行优化选取,其中将图像质量指标AL(Artifact Level)作为粒子群算法的适应度值;最后,利用被测对象区域的边界电位分布数据,通过牛顿迭代法迭代,进行图像重建。实测结果表明,本发明既能准确反映图像的大小和位置,同时又能提高图像分辨率,使得图像边界清晰,减少伪影。

    一种基于去噪自编码器的电阻抗深度成像方法

    公开(公告)号:CN115670421A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211338553.9

    申请日:2022-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于去噪自编码器的电阻抗深度成像方法,将传统方法和去噪自编码器相结合。首先,采用有限元方法对二维圆域电阻抗成像问题进行数值模拟,获得二维圆域的阻抗分布图像和圆域的边界电压。然后,使用分裂Bregman(the split Bregman method,SBM)算法获得粗成像。最后,将粗成像作为输入,真实阻抗分布图像作为输出,训练去噪自编码器网络。该去噪自编码器网络可以用于电阻抗成像。仿真和实测结果表明,针对圆形目标,提出的方法能够实现较高精度去除伪影,实现精确的形状重建。

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