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公开(公告)号:CN110631509B
公开(公告)日:2021-10-08
申请号:CN201910959298.1
申请日:2019-10-10
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01B11/255
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅泰伯像的物体表面曲率检测系统及方法,该方法使用准直光垂直入射一朗奇光栅,透射的光线经过分束镜之后在被测物体表面呈现光栅清晰的泰伯像,反射光能在特定位置呈现含有被测物体表面曲率信息的光栅泰伯像,使用ccd采集该泰伯像,根据采集到的泰伯像计算被测物体表面曲率。本发明具有装置简单、成本低廉、抗干扰能力强、应用范围广等优点。
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公开(公告)号:CN110631509A
公开(公告)日:2019-12-31
申请号:CN201910959298.1
申请日:2019-10-10
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01B11/255
Abstract: 本发明公开了一种基于光栅泰伯像的物体表面曲率检测系统及方法,该方法使用准直光垂直入射一朗奇光栅,透射的光线经过分束镜之后在被测物体表面呈现光栅清晰的泰伯像,反射光能在特定位置呈现含有被测物体表面曲率信息的光栅泰伯像,使用ccd采集该泰伯像,根据采集到的泰伯像计算被测物体表面曲率。本发明具有装置简单、成本低廉、抗干扰能力强、应用范围广等优点。
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