基于清晰度的图像分块方法

    公开(公告)号:CN109300086B

    公开(公告)日:2022-09-27

    申请号:CN201810935422.6

    申请日:2018-08-16

    Abstract: 本发明提出了一种基于清晰度的图像分块方法,具体步骤为:步骤1、对两幅灰度图像分别进行去噪、增强预处理;步骤2、将预处理后的两幅图像分别分解成n个大小为M×N的图像块;步骤3、对两幅图相同位置图像块分别计算清晰度值,Fia表示图像A的第i个图像块的清晰度结果,Fib表示图像B的第i块的清晰度结果;步骤4、比较两幅图像相同位置清晰度的大小,得到二者的差值绝对值FiΔ,若差值绝对值FiΔ小于自定义阈值,则对图像块再次进行划分后回到步骤3,若FiΔ大于等于自定义阈值,则分块结束,完成图像的分块。本发明直接对图像子块进行清晰度数值比较判断子块划分情况,算法简单,耗时时间短,效率高。

    基于自适应分块的多序列图像融合方法

    公开(公告)号:CN109300097A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201810935996.3

    申请日:2018-08-16

    Abstract: 本发明提出了本发明公开了一种基于自适应分块的多序列图像融合方法,对预分割后的图像块的清晰度基于小波变换进行判断,如果两幅对比图像块的清晰度数值差值大于自定义阈值,则将清晰度数值大的图像块写入融合结果图,如果没有,则将两幅对比图进行自适应细分割,直到分割到规定的最小像素块,并将清晰度数值大的图像块写入融合结果图。本发明可以实现良好的图像融合效果,大大提高了分块清晰度判断的精度,提高了融合效果。

    基于旋转正交狭缝的荧光分子三维取向的测定装置及方法

    公开(公告)号:CN111141715B

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202010122325.2

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于旋转正交狭缝的荧光分子三维取向的测定装置及方法,测定装置包括聚合物薄膜层、金属薄膜层、玻璃基底层、物镜、成像透镜、正交狭缝、图像传感器,沿光轴依次摆放,其中,正交狭缝位于图像传感器前方并紧贴图像传感器,通过转动正交狭缝,可以完成不同转动角度下的荧光采集。依据采集的荧光,计算不同像素位置处的强度关系,以及正交狭缝所转的角度,完成荧光分子三维取向的测定。本发明结构简单,使用方便,易于扩展,能够实现仰角测量和方位角测量,测量角度全。

    一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110398479B

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN201910647452.1

    申请日:2019-07-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于光学芯片基底的显微光谱测量装置及方法,装置包括:照明激光光源、扩束镜头、近端激光反射镜、聚焦显微物镜、宽光谱耦合载物光学芯片、收集显微镜、二向色镜、成像镜头和CCD图像传感器。方法如下:制备具有色散功能的宽光谱耦合载物光学芯片;照明激光光源发出的激光被扩束后经近端反射镜和聚焦显微物镜反射聚焦到芯片上的待测物体;待测分子所发出的信号将被束缚于宽光谱耦合载物光学芯片的表面并以多个角度向下出射,被收集显微物镜接收、二向色镜反射后,再被成像镜头成像于图像传感器,计算得出待测物体的光谱信号。本发明解决了传统光谱测量中收集速度慢,分析效率低的技术问题。

    基于自适应分块的多序列图像融合方法

    公开(公告)号:CN109300097B

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN201810935996.3

    申请日:2018-08-16

    Abstract: 本发明提出了本发明公开了一种基于自适应分块的多序列图像融合方法,对预分割后的图像块的清晰度基于小波变换进行判断,如果两幅对比图像块的清晰度数值差值大于自定义阈值,则将清晰度数值大的图像块写入融合结果图,如果没有,则将两幅对比图进行自适应细分割,直到分割到规定的最小像素块,并将清晰度数值大的图像块写入融合结果图。本发明可以实现良好的图像融合效果,大大提高了分块清晰度判断的精度,提高了融合效果。

    一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置及方法

    公开(公告)号:CN110631992A

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201910953410.0

    申请日:2019-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置及方法,装置包括:分光镜、物镜、成像透镜、成像传感器、浸没溶液、荧光样品、多层载物玻片、收集透镜、信号采集传感器、前置透镜和位移控制装置。方法如下:制备具有模式耦合出射功能的多层载物玻片;用于捕获样品的激光被扩束后经分光镜和物镜反射聚焦到浸没溶液中的荧光样品;荧光样品所发出的光经过多层载物玻片以不同角度向下出射;被收集透镜聚焦于信号采集传感器后计算其不同角度区域之间的出射光强比;根据其比值计算出荧光样品的纵向位置并为装置提供位置判据,进而通过位移控制装置控制前置透镜的位置。本发明解决了传统光镊系统中荧光样品纵向定位准确率低的技术问题。

    基于小波变换的清晰度评价方法

    公开(公告)号:CN109191437A

    公开(公告)日:2019-01-11

    申请号:CN201810934584.8

    申请日:2018-08-16

    Abstract: 本发明提出了一种基于小波变换的图像清晰度评价方法,具体包括:对灰度序列图像分别进行预处理,得到预处理后的图像;对预处理的图像计算纹理特征值,得到不同梯度的高频子带的权重因子;对预处理图像进行二级小波变换,得到高频子带小波系数;根据高频子带的权重因子和各高频子带小波系数计算得到图像清晰度值。本发明实现了序列图像清晰度的评价,有效提高了评价的精度和分辨力,具有良好的抗噪性能。

    基于旋转正交狭缝的荧光分子三维取向的测定装置及方法

    公开(公告)号:CN111141715A

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN202010122325.2

    申请日:2020-02-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于旋转正交狭缝的荧光分子三维取向的测定装置及方法,测定装置包括聚合物薄膜层、金属薄膜层、玻璃基底层、物镜、成像透镜、正交狭缝、图像传感器,沿光轴依次摆放,其中,正交狭缝位于图像传感器前方并紧贴图像传感器,通过转动正交狭缝,可以完成不同转动角度下的荧光采集。依据采集的荧光,计算不同像素位置处的强度关系,以及正交狭缝所转的角度,完成荧光分子三维取向的测定。本发明结构简单,使用方便,易于扩展,能够实现仰角测量和方位角测量,测量角度全。

    一种基于清晰度评价的显微镜系统景深测量装置和方法

    公开(公告)号:CN109141823A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201810935988.9

    申请日:2018-08-16

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明公开了一种基于图像清晰度评价的显微镜景深测量装置和方法,装置具体为:光源、扩束镜、载物台、物镜依次同轴放置在一水平线上,所述载物台用于置放测量样本,所述探测器位于物镜的焦面处;所述计算机用于根据探测器得到的成像信息获取图像的清晰度从而控制载物台沿光轴方向移动。该方法通过改变载物台和光源之间的距离,测量样本的清晰度数值,确定恰好不能改变清晰度要求的定焦测量值时移动的距离作为景深值。本发明实现对不同倍率镜头进行了快速景深测量,可应用于需要实时获取景深关系或者景深拓展系统的场合,具有装置简单、速度快、抗噪性好的优点。

    一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置及方法

    公开(公告)号:CN110631992B

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN201910953410.0

    申请日:2019-10-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于荧光耦合出射的光镊纵向定位反馈装置及方法,装置包括:分光镜、物镜、成像透镜、成像传感器、浸没溶液、荧光样品、多层载物玻片、收集透镜、信号采集传感器、前置透镜和位移控制装置。方法如下:制备具有模式耦合出射功能的多层载物玻片;用于捕获样品的激光被扩束后经分光镜和物镜反射聚焦到浸没溶液中的荧光样品;荧光样品所发出的光经过多层载物玻片以不同角度向下出射;被收集透镜聚焦于信号采集传感器后计算其不同角度区域之间的出射光强比;根据其比值计算出荧光样品的纵向位置并为装置提供位置判据,进而通过位移控制装置控制前置透镜的位置。本发明解决了传统光镊系统中荧光样品纵向定位准确率低的技术问题。

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