公开(公告)号：CN113551614B

公开(公告)日：2022-10-14

申请号：CN202110728724.8

申请日：2021-06-29

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 袁群 ,  周俊涛 ,  孙一峰 ,  马剑秋 ,  郭珍艳 ,  谢澎飞 ,  周行 ,  第五蔻蔻

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种基于光谱分布特性的三维形貌干涉测量快速垂直扫描方法，用以解决现有垂直扫描白光干涉测量技术难以快速测量高度达微米量级的样品的问题。本发明基于光谱分布特性选取的时序垂直粗扫描步长，能保证不论图像采集的起点在何处，都能使时序垂直粗扫描采集的系列图像中有且仅有两帧干涉图像各自分别对应于样品上、下表面发生干涉的范围内，这不仅增加了寻找样品上、下表面位置的准确率，还缩短了寻找时间。在定位到样品上、下表面位置后，本发明可以直接计算得到发生干涉的区域，然后采用时序垂直精扫描采集图像，最后通过形貌复原算法复原样品的三维形貌，避免了现有方法采用精扫描步长寻找干涉区域的步骤，极大提升了测量速率。

公开(公告)号：CN113551614A

公开(公告)日：2021-10-26

申请号：CN202110728724.8

申请日：2021-06-29

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 袁群 ,  周俊涛 ,  孙一峰 ,  马剑秋 ,  郭珍艳 ,  谢澎飞 ,  周行 ,  第五蔻蔻

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种基于光谱分布特性的三维形貌干涉测量快速垂直扫描方法，用以解决现有垂直扫描白光干涉测量技术难以快速测量高度达微米量级的样品的问题。本发明基于光谱分布特性选取的时序垂直粗扫描步长，能保证不论图像采集的起点在何处，都能使时序垂直粗扫描采集的系列图像中有且仅有两帧干涉图像各自分别对应于样品上、下表面发生干涉的范围内，这不仅增加了寻找样品上、下表面位置的准确率，还缩短了寻找时间。在定位到样品上、下表面位置后，本发明可以直接计算得到发生干涉的区域，然后采用时序垂直精扫描采集图像，最后通过形貌复原算法复原样品的三维形貌，避免了现有方法采用精扫描步长寻找干涉区域的步骤，极大提升了测量速率。