公开(公告)号：CN113820543A

公开(公告)日：2021-12-21

申请号：CN202111271542.9

申请日：2021-10-29

Applicant: 南京工程学院

Inventor： 张洋恺 ,  吴军 ,  姚京李 ,  李永琪 ,  张瑶 ,  刘开萱 ,  冯旭东

IPC: G01R27/08 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种薄膜材料电阻率和霍尔效应测量装置及方法，其中装置消除探针间距限制的优点，探针台接入设计的电路，通过继电器控制电路通断，电流表电压表可检测待测材料相关参数，将信号上传至单片机，以计算出待测材料电阻率。同时搭配有电源，电磁铁，磁传感器可检测待测材料霍尔效应。本发明提供的材料电阻率和霍尔效应测量装置实际操作方便，可提高实验效率和精度，降低由于操作造成的误差，功能多样，将继电器应用于对精度要求较高的测量系统中，降低对硬件的需求标准。

公开(公告)号：CN216117806U

公开(公告)日：2022-03-22

申请号：CN202122624753.8

申请日：2021-10-29

Applicant: 南京工程学院

Inventor： 张洋恺 ,  吴军 ,  姚京李 ,  李永琪 ,  张瑶 ,  刘开萱 ,  冯旭东

IPC: G01R27/08 ,  G01R31/26

Abstract: 本实用新型提供一种薄膜材料电阻率和霍尔效应测量装置。该装置消除探针间距限制的优点，探针台接入设计的电路，通过继电器控制电路通断，电流表电压表可检测待测材料相关参数，将信号上传至单片机，以计算出待测材料电阻率。同时搭配有电源，电磁铁，磁传感器可检测待测材料霍尔效应。本实用新型提供的材料电阻率和霍尔效应测量装置实际操作方便，可提高实验效率和精度，降低由于操作造成的误差，功能多样，将继电器应用于对精度要求较高的测量系统中，降低对硬件的需求标准。